創(chuàng)傷性顱腦損傷動(dòng)物模型及功能磁共振成像技術(shù)在其研究中的應(yīng)用進(jìn)展
發(fā)布時(shí)間:2017-06-15 05:00
本文關(guān)鍵詞:創(chuàng)傷性顱腦損傷動(dòng)物模型及功能磁共振成像技術(shù)在其研究中的應(yīng)用進(jìn)展,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:創(chuàng)傷性顱腦損傷(TBI)發(fā)病率在各種創(chuàng)傷中位居首位。應(yīng)用動(dòng)物模型模仿人類TBI的特點(diǎn),可以用來(lái)了解人類顱腦損傷的病理狀態(tài)并對(duì)其進(jìn)行研究。磁共振成像(MRI)對(duì)顱腦成像具有很大的優(yōu)勢(shì),特別是功能磁共振成像(f MRI)技術(shù),能夠反映腦組織的某些功能狀態(tài),可為了解TBI的病理生理機(jī)制、制定治療方案及評(píng)估預(yù)后提供幫助。
【作者單位】: 天津醫(yī)科大學(xué)第二醫(yī)院;
【關(guān)鍵詞】: 創(chuàng)傷性顱腦損傷 動(dòng)物模型 磁共振成像 功能磁共振成像
【基金】:天津市應(yīng)用基礎(chǔ)與前沿技術(shù)研究計(jì)劃項(xiàng)目(13JCYBJC23800)
【分類號(hào)】:R-332;R651.15
【正文快照】: 創(chuàng)傷性顱腦損傷(TBI)是現(xiàn)代社會(huì)中導(dǎo)致患者死亡或殘疾的主要原因之一。美國(guó)及歐洲TBI發(fā)生率為200~300/10萬(wàn)[1]。人類顱腦損傷一般分為局灶性和彌漫性兩大類,局灶性損傷主要為腦挫裂傷,彌漫性損傷主要由鈍性腦外傷引起,兩種損傷常交互作用,但二者導(dǎo)致的病理表現(xiàn)及形態(tài)學(xué)損害各
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1 趙艷華;邢紀(jì)爽;樊愛(ài)玲;張金榮;趙景霞;;創(chuàng)傷性顱腦損傷患者家屬焦慮度與滿意度的相關(guān)性研究[J];中國(guó)健康心理學(xué)雜志;2008年06期
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本文編號(hào):451451
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