嵌入式閃存測(cè)試不同于傳統(tǒng)的存儲(chǔ)器測(cè)試,它是將內(nèi)建自測(cè)試和傳統(tǒng)存儲(chǔ)器測(cè)試相互結(jié)合的專業(yè)測(cè)試。在傳統(tǒng)嵌入式閃存測(cè)試方法 JTAG 接口的基礎(chǔ)上,通過(guò)對(duì)測(cè)試接口和測(cè)試方法的不斷創(chuàng)新和優(yōu)化,從五個(gè)測(cè)試信號(hào)、四個(gè)測(cè)試信號(hào)、三個(gè)測(cè)試信號(hào)、二個(gè)測(cè)試信號(hào),最終達(dá)到一個(gè)測(cè)試信號(hào)實(shí)現(xiàn)整個(gè)閃存所有功能可測(cè)試的終極測(cè)試方案。不斷創(chuàng)新和優(yōu)化的測(cè)試方法,實(shí)現(xiàn)了在低成本和測(cè)試硬件資源有限的測(cè)試機(jī)上持續(xù)提高嵌入式閃存測(cè)試的同測(cè)數(shù),從而極大地提升了嵌入式閃存的測(cè)試效率、縮短測(cè)試的生產(chǎn)周期和降低閃存測(cè)試的成本。

【文章頁(yè)數(shù)】：3 頁(yè)

【文章目錄】：
1 引言
2 測(cè)試方案
    2.1 標(biāo)準(zhǔn) JTAG 接口,五信號(hào)接口測(cè)試模式
    2.2 四信號(hào)接口,優(yōu)化內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試模式
    2.3 三信號(hào)接口,疊加內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試模式
    2.4 兩信號(hào)接口,疊加內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試模式
    2.5 一信號(hào)接口,疊加內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試模式
3 結(jié)語(yǔ)



本文編號(hào)：3814651