【摘要】： 目的18名單側(cè)髁突增生病患者的曲面斷層片,對其正常及患側(cè)髁突及下頜升支形態(tài)進(jìn)行頭影測量并計算出正常情況及髁突增生情況下的兩組髁突外形指數(shù)平均值:MICS 1,MICS 2,MICS 3,MICS 4,MICS 5,MICS 6及MICS 1',MICS 2',MICS 3',MICS 4',MICS 5',MICS 6',經(jīng)過兩兩配對t檢驗(yàn),證明以上6組數(shù)據(jù)中兩者存在明顯差異,說明髁突增生病對髁突的外形改變確有影響,并探討測量結(jié)果在對該病的初步診斷及術(shù)前分析及手術(shù)設(shè)計中的應(yīng)用。 方法對18名單側(cè)髁突增生病患者曲面體層片應(yīng)用改良后的obwegeser頭影測量法方法進(jìn)行測量,并得到以下長度數(shù)據(jù): WC,WN,ABP,ARL,APL,BH,并計算出: WC/APL, WN/APL, WC/ARL, WN/ ARL, WC/HRL, WN/ HRL的平均值,分別為IOCS 1,2,3,4,5,6,并將以上數(shù)據(jù)分為正常組和異常組,計算出以上數(shù)據(jù)的正常及異常情況下的參考值范圍,并利用兩兩配對t檢驗(yàn)對以上6組數(shù)據(jù)分別進(jìn)行統(tǒng)計計算。 結(jié)果正常組外形指數(shù)平均值分別為:MICS 1:0.4582,MICS 2:0.3989,MICS 3:0.1528,MICS 4: 0.1329,MICS 5:0.1178,MICS 6:0.1027。異常組外形指數(shù)分別為:MICS 1':0.3989,MICS 2':0.3485,MICS 3': 0.1311,MICS 4':0.1247,MICS 5':0.0973,MICS':0.0927。分別對以上6組數(shù)據(jù)進(jìn)行配對t檢驗(yàn)的結(jié)果: 6組數(shù)據(jù)兩兩t檢驗(yàn),均有顯著性差異(p值0.05),并且計算出正常組的參考值范圍為:RRICS 1:02640-0.6524 RRICS 2:0.2457-0.5520 RRICS 3:0.0998-0.2057 RRICS 4:0.0942-0.1715 RRICS 5:0.0847- 0.1508 RRICS 6:0.0772-0.1281異常組參考值范圍為:RRICS 1':0.1963-0.5362 RRICS 2':0.2283-0.4686 RRICS 3':0.0789-0.1832 RRICS':0.0903-0.1590 RRICS 5':0.0556-0.1389 RRICS':0.0671-0.1182。 討論對于不明原因引起的偏頜患者早期診斷中,除了常規(guī)的臨床表現(xiàn)外,基于曲面斷層片的外形測量方法能夠很好的對雙側(cè)的髁狀突及下頜骨進(jìn)行評價,從而明確偏頜患者是否是由于一側(cè)的髁突異常增生引起的,這個簡便的方法是對以往診斷方法的一個補(bǔ)充,不僅節(jié)約時間,而且節(jié)約成本。
【學(xué)位授予單位】：重慶醫(yī)科大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2009
【分類號】：R782.4;R816.98
【圖文】：

圖 3 單側(cè) H.H(A)及單側(cè) H.E (B)患者Fig. 3 Unilateral H.H and unilateral H.EA B圖 4 雙側(cè) H.E 引起的下頜前突Fig. 4 Bilateral hemimandibular-elongation

圖 2 具體各項(xiàng)測量線段的描記方法g. 1 Illusion of Cephalometric analysis of index of condylar sh圖 3 單側(cè) H.H(A)及單側(cè) H.E (B)患者Fig. 3 Unilateral H.H and unilateral H.E

【相似文獻(xiàn)】

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1 胡文煦;髁突外形指數(shù)相關(guān)測定及臨床意義[D];重慶醫(yī)科大學(xué);2009年

本文編號：2769047