【摘要】： 研究目的: 通過觀察比較樹脂-牙體硬組織粘接界面微滲漏和納米滲漏的形態(tài),評價三種不同粘接系統(tǒng)對樹脂充填體周圍滲漏的影響,為臨床應(yīng)用提供參考依據(jù)。 研究方法: 選擇80顆因正畸需要而新鮮拔除的、未經(jīng)治療或其他處理的、健康的年輕人恒前磨牙。在近遠中鄰面釉牙骨質(zhì)冠方1mm處牙頸部預(yù)備4mm×4mm×2mm大小的鄰牙合洞形,隨機均分為C0,C1,NT0,NT1,XⅢ0,XⅢ1,XⅤ0和XⅤ1等8組。 C0和C1組粘接面不涂粘接劑,NT0和NT1組、XⅢ0和XⅢ1組、XⅤ0和XⅤ1組分別用第5代粘接系統(tǒng)Prime Bond NT、第6代粘接系統(tǒng)XenoⅢ和第7代粘接系統(tǒng)XenoⅤ常規(guī)處理粘接界面,采用Ceram·X復(fù)合樹脂進行光固化充填修復(fù)。將C0,NT0,XⅢ0和XⅤ0等4組浸于37℃蒸餾水中24h,C1,NT1,XⅢ1和XⅤ1等4組分別冷熱循環(huán)5000次。上述處理后,充填體邊緣1mm外的牙體組織涂兩層指甲油,自凝塑膠封閉根尖孔。 將所有試件浸泡于37℃、500g/L氨化硝酸銀溶液(pH=9.5)中24h,蒸餾水充分沖洗10sec,再浸泡于顯影液中8h(同時熒光燈照射),取出試件流水沖洗20s并吹干。自頰舌方向于試驗區(qū)域連續(xù)切取2～4片,寬約2mm,沿與粘接界面垂直的方向用不同粒度的油磨石由粗到細依次打磨,用17%EDTA溶液沖洗試件,并予以超聲沖洗。對試件進行常規(guī)真空干燥、噴金,在掃描電子顯微鏡下,以二次電子模式觀察剖面充填體粘接界面的微滲漏和納米滲漏情況。 研究結(jié)果: 1.未進行冷熱循環(huán)各組中,Prime Bond NT組滲漏程度最低,與XenoⅢ和XenoⅤ組比較均存在顯著性差異(P＜0.05),后兩者之間無顯著差異(P＞0.05)。 2.進行冷熱循環(huán)各組中,采用Prime Bond NT、XenoⅢ和XenoⅤ三種粘接系統(tǒng)的充填體邊緣滲漏程度未發(fā)現(xiàn)顯著性差異(P＞0.05)。 3.NT0和NT1、XⅢ0和XⅢ1、XⅤ0和XⅤ1兩兩比較,其滲漏程度無顯著差異(P＞0.05)。 結(jié)論: 1.三種粘結(jié)系統(tǒng)相比較,全酸蝕粘接系統(tǒng)Prime Bond NT充填體邊緣的微滲漏程度相對較低,而自酸蝕粘接系統(tǒng)XenoⅢ和XenoⅤ充填體邊緣滲漏程度相對較高。 2.全酸蝕粘接系統(tǒng)Prime Bond NT和自酸蝕粘接系統(tǒng)XenoⅢ、XenoⅤ粘接界面均可能發(fā)生納米滲漏。 3.應(yīng)用電子顯微鏡觀察粘接界面銀染色是行之有效的納米滲漏的檢測方法。
【圖文】：

l)空白對照組:電鏡(100x)下觀察發(fā)現(xiàn)，多數(shù)試件粘接界面見到裂縫，出現(xiàn)連續(xù)的、較寬的高亮度帶狀滲漏區(qū)域，分布范圍廣泛;高倍鏡(1000X)下觀察發(fā)現(xiàn)，牙體和樹脂之間充滿高亮度的大顆粒狀物質(zhì)。圖2一3:a，b2)第5代粘接系統(tǒng) (PrimeBondNT)組:電鏡(loox)觀察發(fā)現(xiàn)，所有試件未見明顯裂縫，粘接界面上可見連續(xù)或不連續(xù)的線形高亮度區(qū)域。電鏡(IOOOX)和(5O00x)觀察發(fā)現(xiàn)，高亮度物質(zhì)呈細小顆粒狀，分布較稀疏，主要位于粘接劑和牙本質(zhì)之間的混合層內(nèi)，在界面附近與粘接界面相通的牙本質(zhì)小管內(nèi)也可見到高密度的銀滲漏物質(zhì)，，為納米滲漏。圖2一3:。，d
【學(xué)位授予單位】：中南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2009
【分類號】：R783.1

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本文編號：2704539