【摘要】： 目的 在牙體預(yù)備中,采用不同的方法會(huì)對(duì)牙體表面與材料的粘結(jié)產(chǎn)生不同程度的影響。衡量該影響大小的指標(biāo),主要是抗剪切強(qiáng)度(shear bond strength)。目前臨床上最常用的備洞方法是應(yīng)用渦輪手機(jī),但備洞后掃描電鏡下觀察可見(jiàn)牙體組織切面較平,表面覆蓋一層致密的污染層,釉柱結(jié)構(gòu)不清晰,牙本質(zhì)斷面上偶見(jiàn)牙本質(zhì)小管開(kāi)放。這是影響充填物粘結(jié)強(qiáng)度、固位等的不利因素。近年來(lái)國(guó)內(nèi)外許多學(xué)者研究表明,應(yīng)用新型水動(dòng)力激光Er,Cr:YSGG激光進(jìn)行牙體預(yù)備后掃描電鏡下觀察可有效改善上述現(xiàn)象。 另外,牙體的抗剪切強(qiáng)度還與充填材料有關(guān)。玻璃離子(glass ionomers)又稱(chēng)玻璃離子水門(mén)汀(glass ionomer cement,GIC),是口腔科常用的充填修復(fù)材料。與復(fù)合樹(shù)脂類(lèi)粘結(jié)材料相比GIC具有以下優(yōu)點(diǎn):與牙體組織是化學(xué)粘結(jié)、熱膨脹系數(shù)接近牙體組織、可釋放氟預(yù)防繼發(fā)齲、對(duì)牙髓刺激性小、操作簡(jiǎn)單而且對(duì)洞型要求低甚至無(wú)機(jī)械預(yù)備等。 本實(shí)驗(yàn)分別通過(guò)掃描電鏡和體視顯微鏡觀察等方法分析兩種預(yù)備牙體組織的方法(渦輪手機(jī)法和Er,Cr:YSGG激光法)對(duì)三種不同廠家的玻璃離子(上海青浦公司產(chǎn)的GIC-1、日本松風(fēng)公司產(chǎn)的FX-Ⅱ、日本而至公司產(chǎn)的FujiⅨ)類(lèi)充填材料抗剪切粘結(jié)強(qiáng)度的影響,為臨床治療中獲得更好的修復(fù)效果提供理論依據(jù)。 方法 收集45顆因正畸拔除的完整無(wú)齲壞、無(wú)充填物的前磨牙隨機(jī)分成A(30顆)、B(15顆)兩組,各組均以頰側(cè)作為實(shí)驗(yàn)側(cè),舌側(cè)作為對(duì)照側(cè)。A組全部樣本以相同的條件用渦輪手機(jī)在水冷卻的情況下磨除牙冠頰、舌側(cè)牙釉質(zhì),暴露牙本質(zhì)后再隨機(jī)分成三組,即A_1,A_2,A_3組,每組10個(gè)標(biāo)本,各組標(biāo)本頰側(cè)再用Er,Cr:YSGG激光切割去除表層牙本質(zhì),舌側(cè)不做激光處理。A_1,A_2,A_3組的頰、舌側(cè)經(jīng)預(yù)備過(guò)后分別用GIC-1、FX-Ⅱ和FujiⅨ三種不同廠家的GIC充填,用內(nèi)徑3mm、長(zhǎng)3mm的塑料管塑形。B組同樣再隨機(jī)分成三組,即B_1,B_2,B_3組,其中頰側(cè)用Er,Cr:YSGG激光備洞,舌側(cè)用渦輪手機(jī)備洞。各側(cè)預(yù)備洞型要求相同。B_1,B_2,B_3組頰、舌側(cè)同樣分別用上述三種不同GIC充填。A、B組標(biāo)本充填后均經(jīng)500次冷熱循環(huán)。A組標(biāo)本進(jìn)行剪切力測(cè)試,記錄試樣斷裂時(shí)的力值,并在體視顯微鏡下觀察剪切斷面。B組標(biāo)本在掃描電鏡下觀察充填材料與牙體組織粘結(jié)界面后的形態(tài)。A組測(cè)得的剪切力值采用單因素方差分析方法,并進(jìn)行SNK-q檢驗(yàn)進(jìn)行組間兩兩比較。 結(jié)果 1、剪切力實(shí)驗(yàn) 剪切力值經(jīng)統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果表明:A_3組＞A_2組＞A_1組。其中,A_1組實(shí)驗(yàn)側(cè)和對(duì)照組之間沒(méi)有顯著差異(P＞0.05),A_2和A_3組實(shí)驗(yàn)側(cè)與相應(yīng)對(duì)照側(cè)之間均有顯著性差異(P＜0.05)且各組實(shí)驗(yàn)側(cè)(鉺激光預(yù)備)組間、對(duì)照側(cè)(渦輪鉆預(yù)備)組間有顯著性差異(P＜0.05)。 2、體視顯微鏡 各組實(shí)驗(yàn)側(cè)充填材料殘留多于相應(yīng)對(duì)照側(cè)。A_1組頰、舌側(cè)均以界面破壞為主,粘結(jié)斷面僅可見(jiàn)極少量充填物殘留。A_2組頰、舌側(cè)有混合破壞,充填物殘留增多但仍以界面破壞為主。A_3組頰、舌側(cè)均以?xún)?nèi)聚破壞為,粘結(jié)斷面有大塊殘留物。 3、掃描電鏡 掃描電鏡下觀察到的各組牙體組織粘結(jié)面與三種GIC間密合度情況為:各組實(shí)驗(yàn)側(cè)優(yōu)于對(duì)照側(cè);B_3組(日本而至公司產(chǎn)的FujiⅨ)優(yōu)于B_2組(日本松風(fēng)公司產(chǎn)的FX-Ⅱ)優(yōu)于B_1組(上海青浦公司產(chǎn)的GIC-1)。 結(jié)論 1、應(yīng)用Er,Cr:YSGG激光切割的牙體組織可以提高其與玻璃離子類(lèi)充填材料間的抗剪切粘結(jié)強(qiáng)度。 2、應(yīng)用Er,Cr:YSGG激光預(yù)備的窩洞可以使牙體組織與玻璃離子類(lèi)充填材料間連接更緊密。 3、三種不同廠家玻璃離子充填材料相比較:FujiⅨ粘結(jié)性能優(yōu)于FX-Ⅱ優(yōu)于GIC-1。
【圖文】：

(0.05二、體視顯微鏡實(shí)驗(yàn)結(jié)果Al組實(shí)驗(yàn)側(cè)、對(duì)照側(cè)均以界面破壞為主(圖4、5、6)，鏡下可見(jiàn)牙體組織斷面較為光滑，僅能見(jiàn)較少量的充填材料殘留物�；医M對(duì)照側(cè)、實(shí)驗(yàn)側(cè)有混合破壞但也均以界面破壞為主，(圖7、8、9)，但與A;組相比鏡下能看見(jiàn)粘結(jié)斷面的充填材料殘留物增多，其中實(shí)驗(yàn)側(cè)增加的更為明顯。凡組實(shí)驗(yàn)側(cè)、對(duì)照側(cè)均以?xún)?nèi)聚破壞為主(圖10、11、12)，鏡下可見(jiàn)大塊的粘結(jié)劑殘留，充填斷面部分僅可見(jiàn)少部分牙體組織暴露。圖4，Al組實(shí)驗(yàn)側(cè)的體視顯微鏡圖像(xls) Figure4.SteremicroscoPeobservation ofthetestgrouPAi(x15)圖5

凡組(FujiLx)實(shí)驗(yàn)側(cè)對(duì)照側(cè)3.79士0.3.17士0.P<0.05￡叨‘叮組間檢驗(yàn):a與c、e組間兩兩比較均為尸<0.05;b與d、f組間兩兩比較均為(0.05二、體視顯微鏡實(shí)驗(yàn)結(jié)果Al組實(shí)驗(yàn)側(cè)、對(duì)照側(cè)均以界面破壞為主(圖4、5、6)，鏡下可見(jiàn)牙體組織面較為光滑，僅能見(jiàn)較少量的充填材料殘留物�；医M對(duì)照側(cè)、實(shí)驗(yàn)側(cè)有混合破但也均以界面破壞為主，(圖7、8、9)，但與A;組相比鏡下能看見(jiàn)粘結(jié)斷面的填材料殘留物增多，其中實(shí)驗(yàn)側(cè)增加的更為明顯。凡組實(shí)驗(yàn)側(cè)、對(duì)照側(cè)均以?xún)?nèi)破壞為主(圖10、11、12)，，鏡下可見(jiàn)大塊的粘結(jié)劑殘留，充填斷面部分僅可少部分牙體組織暴露。
【學(xué)位授予單位】：中國(guó)醫(yī)科大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2009
【分類(lèi)號(hào)】：R783

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2621897