本文關鍵詞：自相關過程中控制圖的應用研究

  更多相關文章： 自相關過程 過程能力 殘差控制圖 ARMA模型 網(wǎng)站轉(zhuǎn)化率

【摘要】：統(tǒng)計過程控制的目的是幫助質(zhì)量管理人員對生產(chǎn)過程進行監(jiān)控、識別生產(chǎn)過程的異常點,進而對生產(chǎn)過程進行調(diào)整以使生產(chǎn)過程處于可接受且穩(wěn)定的狀態(tài),最終的目標是使服務和產(chǎn)品的質(zhì)量達到客戶的期望標準。統(tǒng)計過程控制其中最重要的方法就是控制圖。常規(guī)控制圖有一個應用前提,就是樣本數(shù)據(jù)足夠多,并且數(shù)據(jù)是獨立同分布的。然而,隨著自動化水平的提高,現(xiàn)在很多的生產(chǎn)過程并不滿足上述前提,而是存在很多的自相關現(xiàn)象。如果繼續(xù)使用常規(guī)控制圖,會造成大量虛發(fā)警報的發(fā)生,而且常規(guī)控制圖過程能力指數(shù)并不能真實反映自相關情況下的過程能力。在本文中提出了殘差控制圖,目的是為了解決上述問題。對自相關數(shù)據(jù)擬合ARMA模型后,得到的殘差是獨立同分布的,繼而建立殘差的常規(guī)控制圖。首先借助于一個實例,分析了常規(guī)控制圖在數(shù)據(jù)具有相關性時的不足之處。結果表明,忽略生產(chǎn)過程的自相關性時,由于生產(chǎn)過程的控制限過緊,導致有更多的時刻點超出控制限,結果發(fā)生了更多的虛發(fā)警報,給組織造成不可避免的損失。其次用簡單而廣泛使用的AR(1)模型從理論層面分析了自相關情況下殘差控制圖過程能力指數(shù)的計算方法。研究表明,由于常規(guī)控制圖的總體標準差被低估,所以常規(guī)方法計算出的過程能力指數(shù)相對殘差控制圖計算出的過程能力指數(shù)偏高。這兩者之間的偏差會隨著自相關強度的增強而不斷變大。這很容易導致對本已過程能力不足的生產(chǎn)過程作出符合生產(chǎn)要求的判斷,錯過最佳的改進時機,造成大量不合格品的上升。最后針對不同的自相關系數(shù)進行仿真計算,具體說明了比較過程。文章第二大部分是將殘差控制圖應用于現(xiàn)在日益繁盛的電商領域。選取的數(shù)據(jù)是非平穩(wěn)自相關的。因此,本文中首先需要將數(shù)據(jù)進行平穩(wěn)化處理,主要用到了差分的知識;其次對平穩(wěn)化后的數(shù)據(jù)進行模型的識別,主要是通過自相關函數(shù)和偏自相關函數(shù)的知識;然后經(jīng)過假設檢驗識別出擬合效果最好的模型,最后對殘差建立控制圖。將殘差控制圖的結果與實際情況比較后發(fā)現(xiàn),殘差控制圖準確的將異常情況識別了出來,對質(zhì)量管理人員以后采取營銷策略具有指導意義。
【關鍵詞】：自相關過程 過程能力 殘差控制圖 ARMA模型 網(wǎng)站轉(zhuǎn)化率
【學位授予單位】：北京理工大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：F224;F273.2
【目錄】：

• 摘要5-6
• Abstract6-10
• 第1章 緒論10-17
• 1.1 研究背景和意義10-11
• 1.1.1 選題背景10-11
• 1.1.2 研究意義11
• 1.2 自相關控制圖國內(nèi)外研究現(xiàn)狀11-15
• 1.2.1 國外研究現(xiàn)狀11-13
• 1.2.2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀13-15
• 1.3 本文研究方法及主要內(nèi)容15-17
• 1.3.1 研究方法15
• 1.3.2 本文主要內(nèi)容15-17
• 第2章 控制圖理論17-26
• 2.1 常規(guī)控制圖概述17-20
• 2.1.1 控制圖的定義17-18
• 2.1.2 兩類錯誤18-19
• 2.1.3 控制圖的判斷準則19-20
• 2.2 自相關控制圖20-26
• 2.2.1 自相關過程及相關函數(shù)20-23
• 2.2.2 殘差控制圖理論23-24
• 2.2.3 殘差控制圖設計流程24-26
• 第3章 自相關現(xiàn)象對常規(guī)控制圖的影響分析26-42
• 3.1 常規(guī)控制圖27-28
• 3.2 殘差控制圖28-33
• 3.3 過程能力比較33-35
• 3.4 仿真計算35-41
• 3.5 結果對比分析41-42
• 第4章 自相關控制圖在電子商務中的應用42-61
• 4.1 樣本數(shù)據(jù)的收集及預處理43-46
• 4.2 控制圖類型的選擇46-48
• 4.3 自相關控制圖的應用48-57
• 4.3.1 模型的識別及構建48-53
• 4.3.2 殘差的生成53-56
• 4.3.3 殘差控制圖56-57
• 4.4 結果分析57-59
• 4.5 研究啟示59-61
• 第5章 總結61-63
• 5.1 本文內(nèi)容總結61
• 5.2 創(chuàng)新及研究展望61-63
• 參考文獻63-66
• 致謝66

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 趙秉瑯;;控制圖在試驗和生產(chǎn)中的應用[J];云南冶金;1993年11期

2 王海燕,韓之俊;試論國家標準《控制圖》判定規(guī)則取舍的合理性[J];世界標準化與質(zhì)量管理;2001年01期

3 張公緒,孫靜;統(tǒng)計過程控制與診斷 第四講 ，

本文編號：678617