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321. CMOS環(huán)形壓控振蕩器的研究及應(yīng)用
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322. CMOS圖像傳感器溫度噪聲及去噪研究
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323. 線掃描CMOS圖像傳感器讀出電路關(guān)鍵技術(shù)研究
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324. 漏電流對(duì)CMOS探測器成像品質(zhì)的影響分析
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325. 一種新型低功耗電流模式CMOS帶隙基準(zhǔn)設(shè)計(jì)
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326. 納米CMOS器件多阱工藝單粒子效應(yīng)機(jī)理研究
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327. CMOS數(shù)字電路ESD保護(hù)電路效應(yīng)建模與機(jī)理研究
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328. CMOS單片集成3D霍爾磁傳感器研究與設(shè)計(jì)
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329. 絕熱式漸次充電技術(shù)在CMOS電路中的應(yīng)用
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330. 基于65nm商用CMOS工藝的BTI效應(yīng)研究
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