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171. 線掃描CMOS圖像傳感器讀出電路關(guān)鍵技術(shù)研究
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172. 漏電流對(duì)CMOS探測(cè)器成像品質(zhì)的影響分析
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173. 一種新型低功耗電流模式CMOS帶隙基準(zhǔn)設(shè)計(jì)
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174. 納米CMOS器件多阱工藝單粒子效應(yīng)機(jī)理研究
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175. CMOS數(shù)字電路ESD保護(hù)電路效應(yīng)建模與機(jī)理研究
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176. CMOS單片集成3D霍爾磁傳感器研究與設(shè)計(jì)
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177. 絕熱式漸次充電技術(shù)在CMOS電路中的應(yīng)用
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178. 基于65nm商用CMOS工藝的BTI效應(yīng)研究
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179. CMOS射頻收發(fā)機(jī)中頻率合成器的設(shè)計(jì)
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180. CMOS存儲(chǔ)單元電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固設(shè)計(jì)研究
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