質(zhì)子和電子輻照下防靜電熱控涂層的性能退化
發(fā)布時(shí)間:2017-07-25 13:55
本文關(guān)鍵詞:質(zhì)子和電子輻照下防靜電熱控涂層的性能退化
更多相關(guān)文章: 電子輻照 質(zhì)子輻照 ITO膜 熱控涂層 防靜電 表面電阻率 原位測(cè)試
【摘要】:熱控涂層表面鍍氧化銦錫(indium tin-oxide,ITO)膜是抑制航天器表面充放電的有效措施,但空間輻射環(huán)境總劑量效應(yīng)可能會(huì)使鍍ITO膜防靜電熱控涂層的導(dǎo)電性能發(fā)生退化,從而引發(fā)充放電效應(yīng)。為此,以2種典型防靜電熱控涂層(ITO/Kapton/Al、ITO/OSR/Ag)為研究對(duì)象,研究了地球同步軌道(GEO)低能質(zhì)子和電子輻射環(huán)境對(duì)防靜電熱控涂層表面電阻率的影響。試驗(yàn)參數(shù)采用劑量-深度分布模擬方法確定,試驗(yàn)數(shù)據(jù)采用表面電阻率原位測(cè)量方法獲得。試驗(yàn)結(jié)果表明,質(zhì)子和電子輻照下2種防靜電熱控涂層的表面電阻率均呈指數(shù)衰減趨勢(shì),且電子輻照下材料性能變化趨勢(shì)更為明顯。掃描電鏡(SEM)分析表明,ITO/OSR/Ag輻照后表面損傷較小,而ITO/Kapton/Al輻照后表面出現(xiàn)細(xì)小的裂紋。X射線光電子能譜(XPS)分析表明,質(zhì)子、電子輻照后涂層表面氧空位型缺陷以及Sn4+離子增多可能是導(dǎo)致防靜電熱控涂層表面導(dǎo)電性能增強(qiáng)的原因。該研究工作驗(yàn)證了空間帶電粒子輻射環(huán)境對(duì)鍍ITO膜防靜電熱控涂層的導(dǎo)電性能沒(méi)有嚴(yán)重影響,為地球同步軌道長(zhǎng)壽命型號(hào)大量使用鍍ITO膜防靜電熱控涂層提供支持。
【作者單位】: 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所;
【關(guān)鍵詞】: 電子輻照 質(zhì)子輻照 ITO膜 熱控涂層 防靜電 表面電阻率 原位測(cè)試
【基金】:國(guó)防科工委基礎(chǔ)科研項(xiàng)目~~
【分類號(hào)】:V445.1
【正文快照】: 0引言1地球同步軌道(GEO)環(huán)境中存在著大量的帶——電粒子,可產(chǎn)生嚴(yán)重的充放電效應(yīng)[1-5]。當(dāng)衛(wèi)星表面累積電荷超過(guò)擊穿閾值時(shí),將發(fā)生放電現(xiàn)象,對(duì)衛(wèi)星安全構(gòu)成嚴(yán)重威脅[6-8]。由于衛(wèi)星表面大部分被用于溫控的熱控涂層所覆蓋,所以可以通過(guò)提高熱控涂層的導(dǎo)電性能來(lái)達(dá)到防靜電的,
本文編號(hào):571636
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