本文關(guān)鍵詞：航空發(fā)動機電子控制器BIT設(shè)計及驗證技術(shù)研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：航空發(fā)動機電子控制器正朝著復(fù)雜化、綜合化、高性能方向發(fā)展,其故障測試難度越來越大,機內(nèi)測試(BIT)技術(shù)作為系統(tǒng)和設(shè)備測試發(fā)展的新方向和關(guān)鍵技術(shù),為提高航空發(fā)動機控制系統(tǒng)的可靠性提供了新的解決途徑。 本文在分析航空發(fā)動機電子控制器典型電路模塊故障模式的基礎(chǔ)上,提出了各個電路模塊的軟件和硬件結(jié)合的 BIT 測試方法,并將 BIT 測試方法在基于 DSP 的航空發(fā)動機電子控制器原理樣機上進行了工程實現(xiàn)。 為了驗證電子控制器的 BIT 檢測能力,提出了面向 FADEC 系統(tǒng)的智能化BIT 測試適配器的設(shè)計思想。智能化 BIT 測試適配器包括基于 ARM 的故障注入器和用于故障注入管理的 PC 計算機,它具有故障注入及 BIT 檢測結(jié)果回收的能力,同時能夠模擬電子控制器的外部接口環(huán)境。 最后通過智能化BIT測試適配器對具有BIT功能的電子控制器原理樣機進行了故障注入實驗,驗證了電子控制器的 BIT 故障檢測性能,同時說明該適配器是 BIT 設(shè)計和應(yīng)用過程中的有效工具。
【關(guān)鍵詞】：航空發(fā)動機 電子控制器 機內(nèi)自測試 故障注入 DSP ARM
【學(xué)位授予單位】：南京航空航天大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2005
【分類號】：V233.7
【目錄】：

• 第一章緒論12-16
• 1.1 BIT 技術(shù)概述12-13
• 1.2 研究背景13-14
• 1.3 本文主要工作14-16
• 第二章電子控制器電路分析及故障模式建立16-27
• 2.1 電路故障成因16
• 2.2 電路故障分類16-17
• 2.3 電子控制器電路分析17-19
• 2.4 電子控制器故障模式建立的總體思想19
• 2.5 電子控制器故障模式建立19-26
• 2.5.1 CPU 故障模式19-21
• 2.5.2 RAM 故障模式21-23
• 2.5.3 ROM 故障模式23
• 2.5.4 A/D、D/A 故障模式23
• 2.5.5 異步通信接口故障模式23-24
• 2.5.6 傳感器及信號調(diào)理電路故障模式24-25
• 2.5.7 執(zhí)行機構(gòu)及驅(qū)動電路故障模式25-26
• 2.6 小結(jié)26-27
• 第三章電子控制器BIT 設(shè)計27-39
• 3.1 通用BIT 技術(shù)27-28
• 3.1.1 BIT 通用設(shè)計準(zhǔn)則27
• 3.1.2 BIT 測試點的選擇27-28
• 3.2 電子控制器BIT 設(shè)計思想28-29
• 3.3 電子控制器典型電路模塊的BIT 設(shè)計29-38
• 3.3.1 CPU 功能電路模塊的BIT 測試方法29-31
• 3.3.2 RAM 功能電路模塊的BIT 測試方法31-33
• 3.3.3 ROM 功能電路模塊的BIT 測試方法33
• 3.3.4 串行接口電路的BIT 測試方法33-34
• 3.3.5 A/D 和D/A 轉(zhuǎn)換接口電路的BIT 測試方法34-35
• 3.3.6 輸入通道電路的BIT 測試方法35-37
• 3.3.7 輸出通道電路的BIT 測試方法37-38
• 3.4 小結(jié)38-39
• 第四章 基于DSP 具有BIT 功能的電子控制器設(shè)計39-57
• 4.1 電子控制器的總體設(shè)計39-40
• 4.2 電子控制器的硬件設(shè)計40-51
• 4.2.1 核心處理器的選擇40
• 4.2.2 核心數(shù)字電路40-44
• 4.2.3 輸入通道電路44-48
• 4.2.4 輸出通道電路48-50
• 4.2.5 通信接口電路50
• 4.2.6 電源50-51
• 4.3 電子控制器的軟件設(shè)計51-56
• 4.3.1 CPLD 程序設(shè)計51-52
• 4.3.2 DSP 系統(tǒng)軟件設(shè)計52-56
• 4.4 小結(jié)56-57
• 第五章 故障注入技術(shù)研究57-65
• 5.1 故障注入技術(shù)概述57-59
• 5.1.1 軟件故障注入方法57-58
• 5.1.2 硬件故障注入方法58-59
• 5.2 本文故障注入總體思想59-60
• 5.3 基于后驅(qū)動技術(shù)的故障注入方法60-62
• 5.3.1 基于后驅(qū)動技術(shù)的故障注入方法原理60-61
• 5.3.2 基于后驅(qū)動技術(shù)故障注入方法的安全容限61-62
• 5.4 基于電壓求和的故障注入方法62-63
• 5.5 基于電子開關(guān)和軟件技術(shù)的故障注入方法63-64
• 5.6 電路故障注入節(jié)點64
• 5.7 小結(jié)64-65
• 第六章 智能化BIT 測試適配器設(shè)計65-89
• 6.1 智能化BIT 測試適配器總體設(shè)計65-66
• 6.1.1 測試適配器需求分析65
• 6.1.2 測試適配器總體設(shè)計65-66
• 6.2 故障注入器硬件設(shè)計66-79
• 6.2.1 硬件結(jié)構(gòu)設(shè)計66
• 6.2.2 核心控制器選擇66-68
• 6.2.3 核心數(shù)字電路68-72
• 6.2.4 模擬傳感器和執(zhí)行機構(gòu)電路72-76
• 6.2.5 故障注入電路76-77
• 6.2.6 通信接口電路77-79
• 6.3 故障注入器軟件設(shè)計79-84
• 6.3.1 ARM 系統(tǒng)軟件開發(fā)流程79-81
• 6.3.2 ARM 系統(tǒng)軟件設(shè)計81-84
• 6.4 上位管理計算機軟件設(shè)計84-88
• 6.4.1 USB 設(shè)備驅(qū)動軟件設(shè)計84-86
• 6.4.2 故障注入管理軟件設(shè)計86-88
• 6.5 小結(jié)88-89
• 第七章 系統(tǒng)調(diào)試及BIT 驗證試驗89-99
• 7.1 系統(tǒng)調(diào)試89-96
• 7.1.1 電子控制器原理樣機調(diào)試89-90
• 7.1.2 智能化BIT 測試適配器調(diào)試90-91
• 7.1.3 聯(lián)機試驗91-96
• 7.2 故障注入試驗96-98
• 7.3 小結(jié)98-99
• 第八章 總結(jié)與展望99-101
• 8.1 論文總結(jié)99-100
• 8.2 工作展望100-101
• 致謝101-102
• 攻讀碩士論文期間發(fā)表論文情況102-103
• 參考文獻103-105

【引證文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 秦海波;張?zhí)旌?孫健國;;面向FADEC系統(tǒng)BIT驗證的綜合故障注入器研究[J];航空動力學(xué)報;2006年03期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 李天梅;裝備測試性驗證試驗優(yōu)化設(shè)計與綜合評估方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前6條

1 楊，

本文編號：487769