針對(duì)飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪葉片缺陷檢測(cè)難度大、效率低、嚴(yán)重制約航空裝備保障的問(wèn)題,設(shè)計(jì)一套基于ARM和FPGA的雙核電磁無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用FPGA結(jié)合A/D采樣芯片完成64通道數(shù)據(jù)采集,并以基于android系統(tǒng)的ARM實(shí)現(xiàn)對(duì)各功能單元的控制。FPGA控制A/D采樣芯片完成傳感器陣列的高速數(shù)據(jù)采集并對(duì)其進(jìn)行預(yù)處理,經(jīng)UART接口送給ARM后,再由ARM完成信號(hào)特征提取和缺陷檢測(cè),并實(shí)現(xiàn)三維實(shí)時(shí)成像。測(cè)試結(jié)果表明:該系統(tǒng)對(duì)微裂紋的長(zhǎng)度檢測(cè)誤差<0.2 mm,成像速率達(dá)10幀/s,滿足工業(yè)應(yīng)用需求。 

【文章來(lái)源】：中國(guó)測(cè)試. 2016,42(01)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：4 頁(yè)

【部分圖文】：

微損傷檢測(cè)系統(tǒng)組成框圖

試件缺陷三維成像效果圖

微損傷檢測(cè)系統(tǒng)組成框圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
[1]基于平面電磁傳感器陣列的缺陷定量檢測(cè)方法研究[D]. 賀紅娟.國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2012



本文編號(hào)：3556461