針對飛機發(fā)動機渦輪葉片缺陷檢測難度大、效率低、嚴(yán)重制約航空裝備保障的問題,設(shè)計一套基于ARM和FPGA的雙核電磁無損檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用FPGA結(jié)合A/D采樣芯片完成64通道數(shù)據(jù)采集,并以基于android系統(tǒng)的ARM實現(xiàn)對各功能單元的控制。FPGA控制A/D采樣芯片完成傳感器陣列的高速數(shù)據(jù)采集并對其進(jìn)行預(yù)處理,經(jīng)UART接口送給ARM后,再由ARM完成信號特征提取和缺陷檢測,并實現(xiàn)三維實時成像。測試結(jié)果表明:該系統(tǒng)對微裂紋的長度檢測誤差<0.2 mm,成像速率達(dá)10幀/s,滿足工業(yè)應(yīng)用需求。 

【文章來源】：中國測試. 2016,42(01)北大核心

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

微損傷檢測系統(tǒng)組成框圖

試件缺陷三維成像效果圖

微損傷檢測系統(tǒng)組成框圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3556461