空間介質(zhì)材料的內(nèi)部充電特性數(shù)值模擬
發(fā)布時間:2021-12-02 09:49
隨著航空航天事業(yè)的發(fā)展以及B5G/6G技術(shù)的布局,航天器的輻射防護和衛(wèi)星的穩(wěn)定運行已經(jīng)成為國家戰(zhàn)略需求和世界空間科學(xué)技術(shù)的重大問題?臻g介質(zhì)內(nèi)部充電效應(yīng)引起的衛(wèi)星故障事件已成為航天器防護領(lǐng)域的重要問題,直接影響衛(wèi)星的穩(wěn)定性和壽命。近年來,蒙特卡洛粒子輸運方法被運用于空間輻射環(huán)境效應(yīng)的評估中,相比早期使用的經(jīng)驗?zāi)P湍芨玫孛枋隽W虞斶\過程中的復(fù)雜物理機制,目前已經(jīng)成為一種有效的內(nèi)部充電效應(yīng)仿真手段。本文使用蒙特卡洛軟件Geant4模擬粒子輻照過程,并結(jié)合輻致電導(dǎo)率(RIC)理論模型對空間介質(zhì)內(nèi)部充電問題進行研究。本文討論了簡單幾何模型接地方式、常用空間材料和溫度效應(yīng)對空間介質(zhì)內(nèi)部的宏觀電場變化和微觀電荷遷移過程的影響,同時模擬了空間電子環(huán)境輻照情況下介質(zhì)電場變化。研究結(jié)果如下:(1)Geant4-RIC方法研究內(nèi)部充電過程是可行的,經(jīng)驗證在分布趨勢和數(shù)量級方面都可以給出較好的預(yù)測效果;(2)在單能電子輻照芯部接地圓柱模型的研究中,輻照區(qū)域容易因輻致電導(dǎo)率影響而出現(xiàn)電場先減小后增大的“突起型”分布;(3)在單能電子輻照不同材料(ETFE、PTFE、FR-4、PI和PE)背面接地平板模型的研...
【文章來源】:蘭州大學(xué)甘肅省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:86 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
航天器空間環(huán)境效應(yīng)故障比例
蘭州大學(xué)碩士學(xué)位論文空間介質(zhì)材料內(nèi)部充電特性數(shù)值模擬7第二章空間介質(zhì)深層充電的計算方法本章主要討論了高能輻照電子在介質(zhì)內(nèi)部沉積所導(dǎo)致的內(nèi)部充電效應(yīng)的物理機制和計算方法。內(nèi)部充電(InternalCharging)效應(yīng),是指能量為MeV量級或更高的電子和離子穿過外部屏蔽材料,并在航天器內(nèi)部部件的電介質(zhì)材料中沉積電荷,建立電場的過程。由于粒子往往穿過介質(zhì)材料并在深層沉積,又被稱為介質(zhì)深層充電(DeepDielectricCharging)效應(yīng),也有其他的文獻將其稱為體充電或是浸入充電。究其主要產(chǎn)生原因,是電荷在電介質(zhì)中的遷移率較小,很難進行有效泄放。隨著空間輻照時間增長,內(nèi)部場強和電荷密度會逐漸增加,當(dāng)內(nèi)部場強超過材料擊穿閾值時,就會發(fā)生材料的iESD現(xiàn)象(如圖2-1[31]),產(chǎn)生電磁脈沖和電弧放電,造成航天器內(nèi)部組件信號干擾和材料的微觀損傷;暴露在空間環(huán)境中的時間越長,iESD風(fēng)險越大。換言之,內(nèi)部充電過程的基本物理過程也就是高能帶電粒子在電介質(zhì)材料中不斷沉積與內(nèi)部產(chǎn)生的泄放電流二者之間的動態(tài)變化過程。目前有很多計算方法模擬介質(zhì)深層充電效應(yīng),按照其物理機制本章將分為電子在介質(zhì)中的輸運、沉積和介質(zhì)內(nèi)部電場建立兩個過程對相關(guān)計算方法進行介紹,同時簡單介紹下目前使用范圍較廣的內(nèi)部充電效應(yīng)軟件。圖2-1有機玻璃中的放電現(xiàn)象[31]
蘭州大學(xué)碩士學(xué)位論文空間介質(zhì)材料內(nèi)部充電特性數(shù)值模擬9圖2-2電子輸運沉積分布的經(jīng)驗公式計算(實線)與蒙特卡洛模擬(圓點)結(jié)果比較[35]在內(nèi)部充電效應(yīng)研究早期,研究人員由于計算機能力限制而往往采用經(jīng)驗公式進行計算,與蒙特卡洛方法相比,其優(yōu)點是形式簡單、使用方便、效率高,避免了蒙特卡洛方法中的冗余計算和概率性誤差。2.1.2蒙特卡洛方法蒙特卡洛(MonteCarlo,MC)方法,也叫蒙特卡羅方法,以世界賭城之名(CasinodeMonteCarlo)為名,是一種廣泛應(yīng)用于數(shù)學(xué)、物理、經(jīng)濟、工程、醫(yī)學(xué)等多種領(lǐng)域的計算方法。它主要依靠隨機重復(fù)抽樣和統(tǒng)計學(xué)來計算物理或數(shù)學(xué)模型的近似數(shù)值,其思想核心是統(tǒng)計大量隨機性事件來確定原則上的可能性問題,因此也叫統(tǒng)計模擬方法。由于計算機硬件設(shè)備和軟件技術(shù)的更新?lián)Q代大幅度縮減了計算時間,蒙特卡洛方法得到重視,在粒子輸運問題的領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用[36]。電子的輸運模擬可以通過MC方法抽樣計算高能電子與材料相互作用過程,統(tǒng)計材料內(nèi)部的電荷輸運及沉積過程的相關(guān)物理量。MC方法按照以下三個部分解決問題,如圖2-3:(1)根據(jù)需要解決的物理問題確定數(shù)學(xué)方法和發(fā)生概率(能譜抽樣、物理過程抽樣和相互作用原子抽樣等);(2)根據(jù)各種情況的概率進行相應(yīng)的抽樣模擬,得到取樣結(jié)果;(3)對取樣結(jié)果進行統(tǒng)計分析或判斷,使數(shù)學(xué)解和物理模型要求相匹配。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于電荷守恒定律的航天器內(nèi)帶電三維仿真簡化模型[J]. 原青云,孫永衛(wèi),張希軍. 物理學(xué)報. 2019(19)
[2]多層隔熱材料影響下在軌衛(wèi)星溫度場計算[J]. 張翔,王耀霆,李兵. 中國科技論文. 2018(04)
[3]地球同步軌道衛(wèi)星在軌異常與空間環(huán)境相關(guān)性分析[J]. 常崢,王詠梅,田天,潘業(yè)欣. 宇航學(xué)報. 2017(04)
[4]星用介質(zhì)材料深層充電效應(yīng)仿真分析[J]. 安恒,薛玉雄,楊生勝,莊凱,秦秀波,王俊. 核技術(shù). 2016(12)
[5]考慮溫度梯度的衛(wèi)星外露介質(zhì)深層充電[J]. 王松,唐小金,孫永衛(wèi),武占成,易忠. 高電壓技術(shù). 2016(05)
[6]聚酰亞胺電導(dǎo)率隨溫度和電場強度的變化規(guī)律[J]. 王松,武占成,唐小金,孫永衛(wèi),易忠. 物理學(xué)報. 2016(02)
[7]載人航天器艙內(nèi)流場與溫度場松耦合計算方法研究[J]. 李志杰,果琳麗. 航天返回與遙感. 2015(02)
[8]衛(wèi)星電纜網(wǎng)內(nèi)部充電效應(yīng)仿真分析[J]. 孫建軍,張振龍,梁偉,岳赟,楊濤,韓建偉. 航天器環(huán)境工程. 2014(02)
[9]多層隔熱材料飛行試驗研究綜述[J]. 石進峰,吳清文,陳立恒,楊獻偉. 中國光學(xué). 2013(04)
[10]地球同步軌道高能電子通量預(yù)報方法研究[J]. 郭策,薛炳森,林兆祥. 空間科學(xué)學(xué)報. 2013(04)
博士論文
[1]典型結(jié)構(gòu)的深層充放電規(guī)律及放電干擾影響研究[D]. 鄭漢生.中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心) 2017
[2]低軌道航空器輻射環(huán)境和表面充電效應(yīng)研究[D]. 師立勤.中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2011
[3]介質(zhì)深層帶電數(shù)值模擬與應(yīng)用研究[D]. 秦曉剛.蘭州大學(xué) 2010
[4]航天器介質(zhì)深層充放電特征及其影響[D]. 全榮輝.中國科學(xué)院研究生院(空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心) 2009
碩士論文
[1]航天器介質(zhì)材料深層充放電效應(yīng)模擬分析研究[D]. 強鵬.南京航空航天大學(xué) 2015
[2]基于GEANT4的航天器介質(zhì)抗內(nèi)帶電數(shù)值模擬[D]. 唐夫樂.山東大學(xué) 2013
本文編號:3528195
【文章來源】:蘭州大學(xué)甘肅省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:86 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
航天器空間環(huán)境效應(yīng)故障比例
蘭州大學(xué)碩士學(xué)位論文空間介質(zhì)材料內(nèi)部充電特性數(shù)值模擬7第二章空間介質(zhì)深層充電的計算方法本章主要討論了高能輻照電子在介質(zhì)內(nèi)部沉積所導(dǎo)致的內(nèi)部充電效應(yīng)的物理機制和計算方法。內(nèi)部充電(InternalCharging)效應(yīng),是指能量為MeV量級或更高的電子和離子穿過外部屏蔽材料,并在航天器內(nèi)部部件的電介質(zhì)材料中沉積電荷,建立電場的過程。由于粒子往往穿過介質(zhì)材料并在深層沉積,又被稱為介質(zhì)深層充電(DeepDielectricCharging)效應(yīng),也有其他的文獻將其稱為體充電或是浸入充電。究其主要產(chǎn)生原因,是電荷在電介質(zhì)中的遷移率較小,很難進行有效泄放。隨著空間輻照時間增長,內(nèi)部場強和電荷密度會逐漸增加,當(dāng)內(nèi)部場強超過材料擊穿閾值時,就會發(fā)生材料的iESD現(xiàn)象(如圖2-1[31]),產(chǎn)生電磁脈沖和電弧放電,造成航天器內(nèi)部組件信號干擾和材料的微觀損傷;暴露在空間環(huán)境中的時間越長,iESD風(fēng)險越大。換言之,內(nèi)部充電過程的基本物理過程也就是高能帶電粒子在電介質(zhì)材料中不斷沉積與內(nèi)部產(chǎn)生的泄放電流二者之間的動態(tài)變化過程。目前有很多計算方法模擬介質(zhì)深層充電效應(yīng),按照其物理機制本章將分為電子在介質(zhì)中的輸運、沉積和介質(zhì)內(nèi)部電場建立兩個過程對相關(guān)計算方法進行介紹,同時簡單介紹下目前使用范圍較廣的內(nèi)部充電效應(yīng)軟件。圖2-1有機玻璃中的放電現(xiàn)象[31]
蘭州大學(xué)碩士學(xué)位論文空間介質(zhì)材料內(nèi)部充電特性數(shù)值模擬9圖2-2電子輸運沉積分布的經(jīng)驗公式計算(實線)與蒙特卡洛模擬(圓點)結(jié)果比較[35]在內(nèi)部充電效應(yīng)研究早期,研究人員由于計算機能力限制而往往采用經(jīng)驗公式進行計算,與蒙特卡洛方法相比,其優(yōu)點是形式簡單、使用方便、效率高,避免了蒙特卡洛方法中的冗余計算和概率性誤差。2.1.2蒙特卡洛方法蒙特卡洛(MonteCarlo,MC)方法,也叫蒙特卡羅方法,以世界賭城之名(CasinodeMonteCarlo)為名,是一種廣泛應(yīng)用于數(shù)學(xué)、物理、經(jīng)濟、工程、醫(yī)學(xué)等多種領(lǐng)域的計算方法。它主要依靠隨機重復(fù)抽樣和統(tǒng)計學(xué)來計算物理或數(shù)學(xué)模型的近似數(shù)值,其思想核心是統(tǒng)計大量隨機性事件來確定原則上的可能性問題,因此也叫統(tǒng)計模擬方法。由于計算機硬件設(shè)備和軟件技術(shù)的更新?lián)Q代大幅度縮減了計算時間,蒙特卡洛方法得到重視,在粒子輸運問題的領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用[36]。電子的輸運模擬可以通過MC方法抽樣計算高能電子與材料相互作用過程,統(tǒng)計材料內(nèi)部的電荷輸運及沉積過程的相關(guān)物理量。MC方法按照以下三個部分解決問題,如圖2-3:(1)根據(jù)需要解決的物理問題確定數(shù)學(xué)方法和發(fā)生概率(能譜抽樣、物理過程抽樣和相互作用原子抽樣等);(2)根據(jù)各種情況的概率進行相應(yīng)的抽樣模擬,得到取樣結(jié)果;(3)對取樣結(jié)果進行統(tǒng)計分析或判斷,使數(shù)學(xué)解和物理模型要求相匹配。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]基于電荷守恒定律的航天器內(nèi)帶電三維仿真簡化模型[J]. 原青云,孫永衛(wèi),張希軍. 物理學(xué)報. 2019(19)
[2]多層隔熱材料影響下在軌衛(wèi)星溫度場計算[J]. 張翔,王耀霆,李兵. 中國科技論文. 2018(04)
[3]地球同步軌道衛(wèi)星在軌異常與空間環(huán)境相關(guān)性分析[J]. 常崢,王詠梅,田天,潘業(yè)欣. 宇航學(xué)報. 2017(04)
[4]星用介質(zhì)材料深層充電效應(yīng)仿真分析[J]. 安恒,薛玉雄,楊生勝,莊凱,秦秀波,王俊. 核技術(shù). 2016(12)
[5]考慮溫度梯度的衛(wèi)星外露介質(zhì)深層充電[J]. 王松,唐小金,孫永衛(wèi),武占成,易忠. 高電壓技術(shù). 2016(05)
[6]聚酰亞胺電導(dǎo)率隨溫度和電場強度的變化規(guī)律[J]. 王松,武占成,唐小金,孫永衛(wèi),易忠. 物理學(xué)報. 2016(02)
[7]載人航天器艙內(nèi)流場與溫度場松耦合計算方法研究[J]. 李志杰,果琳麗. 航天返回與遙感. 2015(02)
[8]衛(wèi)星電纜網(wǎng)內(nèi)部充電效應(yīng)仿真分析[J]. 孫建軍,張振龍,梁偉,岳赟,楊濤,韓建偉. 航天器環(huán)境工程. 2014(02)
[9]多層隔熱材料飛行試驗研究綜述[J]. 石進峰,吳清文,陳立恒,楊獻偉. 中國光學(xué). 2013(04)
[10]地球同步軌道高能電子通量預(yù)報方法研究[J]. 郭策,薛炳森,林兆祥. 空間科學(xué)學(xué)報. 2013(04)
博士論文
[1]典型結(jié)構(gòu)的深層充放電規(guī)律及放電干擾影響研究[D]. 鄭漢生.中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心) 2017
[2]低軌道航空器輻射環(huán)境和表面充電效應(yīng)研究[D]. 師立勤.中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2011
[3]介質(zhì)深層帶電數(shù)值模擬與應(yīng)用研究[D]. 秦曉剛.蘭州大學(xué) 2010
[4]航天器介質(zhì)深層充放電特征及其影響[D]. 全榮輝.中國科學(xué)院研究生院(空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心) 2009
碩士論文
[1]航天器介質(zhì)材料深層充放電效應(yīng)模擬分析研究[D]. 強鵬.南京航空航天大學(xué) 2015
[2]基于GEANT4的航天器介質(zhì)抗內(nèi)帶電數(shù)值模擬[D]. 唐夫樂.山東大學(xué) 2013
本文編號:3528195
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