腦發(fā)育和損傷的關(guān)系日益受到人們的重視,一方面,一些發(fā)育相關(guān)基因參與了腦損傷、再生的病理、生理過程,另一方面在發(fā)育期間高表達的許多有利于軸突生長、突觸形成以及一些調(diào)節(jié)神經(jīng)細胞分化、遷移的基因,可適當(dāng)?shù)耐ㄟ^基因工程技術(shù)應(yīng)用到再生中去將有助于腦損傷的修復(fù)。腦功能和結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,其分子基礎(chǔ)是基因表達的復(fù)雜性,任何一個腦發(fā)育或者損傷事件的分子機制,往往牽涉到多個基因的表達改變。基因芯片技術(shù)提供了一個可以同時研究多個基因動態(tài)改變的分子生物學(xué)平臺,上萬個基因的改變情況在一次芯片實驗中同時被展示出來。本研究以處于視神經(jīng)發(fā)育關(guān)鍵時期的出生前后的小鼠作為發(fā)育模型,以左側(cè)眼球摘除作為視神經(jīng)損傷模型,以正常成年小鼠作為對照,采用高密度發(fā)育 cDNA 基因芯片檢測、分析了處于視神經(jīng)發(fā)育、損傷不同時期的視神經(jīng)的第一級投射站——外側(cè)膝狀體的發(fā)育、損傷相關(guān)基因的表達情況,有如下主要發(fā)現(xiàn):一、腦損傷、發(fā)育模型的建立:1. 采用小鼠左側(cè)眼球摘除作為視神經(jīng)損傷的模型,出生前后的小鼠作為視神經(jīng)發(fā)育的模型,出生后 35-60d 的正常小鼠作為對照。2. 采用 GFAP 免疫組化染色觀察了小鼠雙側(cè)的外側(cè)膝狀體在 E15、E18、... 

【文章來源】：中國人民解放軍陸軍軍醫(yī)大學(xué)重慶市

【文章頁數(shù)】：139 頁

【學(xué)位級別】：博士

【部分圖文】：

Treeview顯示的聚類結(jié)果圖

3. 部分軸突再生相關(guān)基因的聚類分析情況：在第二部分的研究中我們已經(jīng)找到6個已知和軸突生長相關(guān)的基因在發(fā)育和損有差異表達，其中Blot2045、Blot2520、Blot3981參加了本次聚類分析，對這些進一步的聚類分析的結(jié)果如下：（1） Blot2045基因的聚類分析Blot2045的基因聚類圖如圖3-8所示：00.511.5E15 E18 P0 P7 I1 I7 I14 I21F類圖 3-7 F 類基因平均 Ratio 值變化趨勢模式圖

如圖3-9所示：（2） Blot2520的基因聚類分析Blot2520的基因聚類圖如圖3-10所示：Blot2045同類基因的表達模式012345E15 E18 p0 p7 I1 I7 I14 I21Blot2045圖 3-9 Blot2045 聚類同組基因平均 Ratio 值變化趨勢模

【參考文獻】：
期刊論文
[1]Detection of gene expression pattern in the early stage after spinal cord injury by gene chip[J]. 劉成龍,靳安民,童斌輝.  Chinese Journal of Traumatology. 2003(01)
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[3]高密度基因芯片技術(shù)及其發(fā)展趨勢[J]. 陸祖宏.  中國醫(yī)療器械信息. 2000(03)
[4]大鼠生后腦星形膠質(zhì)細胞發(fā)育的形態(tài)學(xué)觀察[J]. 鄧曉林,蔡文琴.  第三軍醫(yī)大學(xué)學(xué)報. 1998(02)
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本文編號：3291063