偏側化是人腦結構的基本特征,揭示偏側化的遺傳效應是闡明其發(fā)生機制的先決條件。多模態(tài)磁共振影像技術的發(fā)展為全面探測大腦偏側化及其遺傳機制提供了技術手段。通過結合磁共振影像數據,現已可以用基因-遺傳度等方法對人腦結構偏側化的個體差異進行定量遺傳映射研究,而雙生子模型為研究先天遺傳和后天環(huán)境對大腦的影響提供了天然的試驗模型�；诖殴舱裼跋竦碾p生子研究表明,人腦結構組織的偏側化是有基因作為遺傳基礎的。本文以定量遺傳分析為視角,著重從遺傳度的偏側化、偏側化的遺傳度及遺傳相關性三大層面,回顧分析半腦偏側化的基因效應及共變的基因機制研究的最新進展,并提出該領域發(fā)展的局限性和挑戰(zhàn)。這一系統(tǒng)的回顧旨在快速地引導科研人員了解人腦左右半球差異的起源與遺傳機制的研究現狀,為進一步理解和探討偏側的認知行為個體差異提供了遺傳依據。 

【文章頁數】：6 頁

【文章目錄】：
引言
1 基于雙生子的定量遺傳分析描述
    1.1 遺傳度
    1.2 遺傳相關性
2 人腦結構偏側化的遺傳效應研究
    2.1 人腦結構的遺傳度的偏側化研究
        2.1.1 基于s MRI的遺傳度的偏側化研究
        2.1.2 基于d MRI的遺傳度的偏側化研究
    2.2 人腦結構的偏側化的遺傳度研究現狀
        2.2.1 基于s MRI的偏側化的遺傳度研究
        2.2.2 基于d MRI的偏側化的遺傳度研究
    2.3 左右半球的遺傳相關性的研究現狀
3 總結和展望


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3722041