【摘要】： 目的比較重復燒結對三種牙科全瓷色參數(shù)(L*、a*、b*)和光學特性(CR、TP、S、K、RI)的影響,并進行微觀結構的分析,考察重復燒結與光色參數(shù)變化與物相微觀結構變化的關系。材料與方法選擇市售三種品牌的全瓷基底冠材料(IPS EmpressⅡ熱壓全瓷,VITA In-Cream氧化鋁全瓷和Cercon CAD/CAM氧化鋯全瓷)制作瓷樣本。在Color-Eye 7000A分光光譜儀上測量樣本的色參數(shù)CIE L*、a*、b*,及黑白背景下的反射系數(shù)R0、R,計算透射性參數(shù)CR、TP、S、K和RI。利用XRD、ESEM和孔隙分析儀對基底冠瓷、飾面瓷樣本進行微觀結構的分析。樣本重復燒結后,再次測量和計算光色參數(shù)并進行微觀結構分析。統(tǒng)計用兩因素多水平重復測量方差分析,組間用LSD-t檢驗,檢驗水平為α=0.05。將總孔體積與光色參數(shù)進行相關回歸分析。結果隨著燒結次數(shù)的增加,三種品牌的全瓷基底冠晶體變得致密,玻璃相減少;基底冠瓷、飾面瓷氣孔的孔徑都有所減小。不同燒結次數(shù)的熱壓瓷及鋯瓷在第1與第5次燒結的總孔體積均值之間的差異具有統(tǒng)計學意義(P0.05)。不同品牌相同燒結次數(shù)的基底冠瓷、飾面瓷樣本總孔體積均值總體不等(P0.05),同品牌不同燒結次數(shù)的光參數(shù)TP、RI的均值總體不等(P0.05),5次燒結后,三種品牌全瓷樣本色參數(shù)無明顯變化(P0.05)�？偪左w積與光色參數(shù)的相關性無規(guī)律可言。結論相同種類的瓷樣本伴隨燒結次數(shù)的增加,鋁瓷的總孔體積受影響最小,其次是鋯瓷,最后才是熱壓瓷。在相同的燒結次數(shù)下的不同種類的瓷樣本中,鋁瓷的總孔體積受影響最小,其次是熱壓瓷和鋯瓷。3種品牌的基底冠瓷和飾面瓷樣本在一定孔徑范圍內(nèi)的總孔體積減少,孔徑范圍呈現(xiàn)由大到小的偏移。同一品牌的全瓷材料,當燒結次數(shù)"f5時,燒結次數(shù)不會對其色參數(shù)差和色差的改變造成影響。在相同燒結次數(shù)下,鋁瓷的色差變化最大,鋯瓷最小,熱壓瓷介于兩者之間。在相同燒結次數(shù)的總孔體積變化,熱壓瓷最大,鋁瓷與鋯瓷相同�？偪左w積變化與色參數(shù)差、色差相關分析表明,僅用總孔體積變化不足以表達色差和色參數(shù)差。就同一品牌全瓷樣本而言,燒結次數(shù)對光參數(shù)有一定程度的影響。不同品牌全瓷樣本相同的燒結次數(shù)下的光參數(shù)有影響。
【圖文】：

圖 1 熱壓鑄造瓷片技術示意圖化鋁全瓷樣本制作：將 In-Cream 專用真空調(diào)拌 20s，灌入直徑 35mm，高 1模。共制作 6 片燒結氧化鋁底層的載體振蕩器上混勻，在真空箱內(nèi)放置 1min鋼模具至于石膏載體上，把調(diào)拌均勻燥后在模具上緣施壓，小心將氧化鋁胚 1120℃下進行初燒。將 In-Cream AL化鋁基底其中一面進行涂布，然后置于30~50μm 的 Al2O3在 6bar 壓力下進行噴紙濕磨拋光，以保證試件兩面平行且厚按照與 IPS EmpressⅡ瓷樣本同樣的制

2 ESEM觀察結果2.1 IPS EmpressⅡ熱壓全瓷IPS-Empress Ⅱ首次燒結的基底冠瓷表面的顯微結構（圖6-A），主要由大量致密的、相互鎖結的、無規(guī)律排列的長板狀硅酸鋰晶體組成，其主晶體長度在1. 0～3.0μm之間；經(jīng)過5次燒結后晶體變得致密，氣孔體積減少，晶體生長比較完全（圖6-B）。首次燒結（圖6-C）的飾面瓷在經(jīng)過酸蝕處理后，可以看到大量的橢圓形氣孔分布在無定形的玻璃相中。5次燒結后（圖6-D），飾面瓷顯示較為致密，，氣孔量有所減少，但未觀察到晶體增加的跡象。
【學位授予單位】：福建醫(yī)科大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2008
【分類號】：R783.1

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本文編號：2658124