瓷全冠修復(fù)體邊緣的微滲漏對(duì)比研究
【圖文】:
1 鈷鉻烤瓷全冠 32 0.872 Cercon ClassⅡ激光掃描 32 0.55系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠3 CerconCAD/CAM系統(tǒng) 32 0.52二氧化鋯全瓷冠注:F值檢驗(yàn),,鈷鉻烤瓷全冠,Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠,CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠,3種瓷全冠間的微滲漏差異有顯著性(P<0.05),作LSD-t進(jìn)一步兩兩比較,鈷鉻烤瓷全冠微滲漏與Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏有顯著性(P<0.05),鈷鉻烤瓷全冠微滲漏與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏有顯著性(P<0.05),Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏無(wú)顯著性差異(P>0.05)。
圖1 Cercon Class Ⅱ激光 圖2 CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠 全瓷冠用國(guó)產(chǎn)聚羧酸鋅水門汀用Panavia F樹(shù)脂粘結(jié)系統(tǒng) 粘結(jié)的微滲漏顯微鏡照片粘結(jié)的微滲漏顯微鏡照片
【學(xué)位授予單位】:遼寧醫(yī)學(xué)院
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2011
【分類號(hào)】:R783
【相似文獻(xiàn)】
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