【摘要】：目的 微滲漏是牙體硬組織與修復體之間產(chǎn)生的難以用肉眼察覺的微小縫隙。微滲漏可導致修復體松動脫落,繼發(fā)齲齒甚至牙髓病等不良后果,是導致修復失敗的主要因素,具有嚴重的危害性。本實驗有兩個目的,一是使用同種粘結(jié)劑粘結(jié)三種不同瓷全冠,觀察粘結(jié)后瓷全冠邊緣的微滲漏情況。另一個是選用Cercon CAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠用三種不同粘結(jié)劑粘結(jié),觀察相同瓷全冠使用不同粘結(jié)劑粘結(jié)后邊緣的微滲漏情況。力求從粘結(jié)劑和瓷全冠兩方面去探討其對瓷全冠邊緣微滲漏的影響,借以在一定程度上指導臨床的修復設(shè)計以及粘結(jié)選材,并為臨床提供有效的理論支持。 方法 挑選因正畸需要拔除的下頜雙尖牙40顆,隨機分為5組,每組8顆。常規(guī)牙體預備,取模,超硬石膏灌制工作模型。隨機取一組8個代型制作鈷鉻金屬烤瓷全冠,隨機取一組8個代型制作Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠,其余三組24個代型制作CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠。所有修復體均由技工中心同一技師制作完成。所有冠修復體粘固前進行噴砂,熱蒸汽噴洗清潔,吹干。將24顆CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠隨機分成3組,每組8顆,隨機分別使用國產(chǎn)聚羧酸水門汀、GC玻璃離子水門汀、Panavia F樹脂粘結(jié)系統(tǒng)粘結(jié)。8顆鈷鉻金屬烤瓷全冠、8顆Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠,使用Panavia F樹脂粘結(jié)系統(tǒng)粘結(jié)。操作步驟嚴格按材料說明進行,仔細清除多余粘結(jié)劑。粘結(jié)后的牙體經(jīng)過體外冷熱循環(huán)實驗,氨化硝酸銀染色實驗。用進口切片沿牙體長軸將瓷全冠切開,使用尼康光學體式顯微鏡觀察并采集瓷全冠修復體剖面微滲漏染色的數(shù)碼圖像,測量染料沿瓷全冠與牙體間滲入的深度,分別觀測4個剖面,取平均值。 結(jié)果 相同條件下,在粘結(jié)和邊緣封閉性能方面,Panavia F樹脂粘結(jié)系統(tǒng)優(yōu)于GC玻璃離子水門汀,而GC玻璃離子水門汀優(yōu)于國產(chǎn)聚羧酸水門汀。相同條件下,邊緣封閉性能方面,Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠無明顯差別,二者的邊緣微滲漏要少于鈷鉻金屬烤瓷全冠。 結(jié)論 1、本實驗條件下,相同瓷全冠組中,不同粘結(jié)劑微滲漏不同。粘結(jié)劑對抗微滲漏的能力方面Panavia F樹脂粘結(jié)系統(tǒng)優(yōu)于GC玻璃離子水門汀,GC玻璃離子水門汀優(yōu)于國產(chǎn)聚羧酸水門汀。 2、本實驗條件下,相同粘結(jié)劑組中,不同全冠微滲漏不同。Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠無明顯差別,二者的邊緣微滲漏要少于鈷鉻金屬烤瓷全冠。
【圖文】：

1 鈷鉻烤瓷全冠 32 0.872 Cercon ClassⅡ激光掃描 32 0.55系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠3 CerconCAD/CAM系統(tǒng) 32 0.52二氧化鋯全瓷冠注：F值檢驗，，鈷鉻烤瓷全冠，Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠，CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠，3種瓷全冠間的微滲漏差異有顯著性（P<0.05），作LSD-t進一步兩兩比較，鈷鉻烤瓷全冠微滲漏與Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏有顯著性（P<0.05），鈷鉻烤瓷全冠微滲漏與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏有顯著性（P<0.05），Cercon ClassⅡ激光掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏與CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠微滲漏無顯著性差異（P>0.05）。

圖1 Cercon Class Ⅱ激光 圖2 CerconCAD/CAM系統(tǒng)二氧化鋯掃描系統(tǒng)二氧化鋯全瓷冠 全瓷冠用國產(chǎn)聚羧酸鋅水門汀用Panavia F樹脂粘結(jié)系統(tǒng) 粘結(jié)的微滲漏顯微鏡照片粘結(jié)的微滲漏顯微鏡照片
【學位授予單位】：遼寧醫(yī)學院
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2011
【分類號】：R783

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本文編號：2603200