本文關鍵詞：重度抑郁癥患者認知障礙與磁共振腦結構的相關性研究

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【摘要】：目的應用彌散張量成像技術(DTI)及基于體素的形態(tài)學(VBM)MRI方法聯(lián)合精神心理測試,探討重度抑郁癥患者腦結構可能存在的神經(jīng)病理改變及其與認知功能損害的相關性。方法30例中青年重度抑郁癥患者(符合DSM-Ⅳ重度抑郁診斷標準)和一般情況均無統(tǒng)計學差異的30例健康對照者,利用漢密爾頓抑郁量表(HAMD-17)對其評估,抑郁癥組達標分數(shù)(HAMD-17)34分,對照組≤7分。受試者入組后接受威斯康星卡片分類測試(WCST)、連線測試(TMT-A、TMT-B)等專屬量表測試項目,各項量表評估結束后進行3.0T MRI檢查,按照先后順序進行:1、常規(guī)T1;2、DTI;3、3維腦結構掃描。以基于體素的形態(tài)測量法(VBM)對腦結構MRI圖像的灰質體積進行處理。兩組的灰質密度(WMC)、白質密度(GMC)、各向異性FA值的數(shù)據(jù)比較,計量資料采用t檢驗、計數(shù)資料采用χ2檢驗,其與認知功能改變的相關性分析采用Pearson相關分析法。以“均數(shù)±標準差(x±SD)”表示計量資料。所有統(tǒng)計學分析均用SPSS 17.0統(tǒng)計學軟件包完成。1.抑郁癥組在威斯康星卡分類測驗測試中連續(xù)錯誤數(shù)、偶然出錯數(shù)、測試錯誤總和較對照組明顯增多(P0.05),而準確回答總和、詞組分類數(shù)較正常組明顯減少(P0.05),連線測試(A、B)全部完全消耗時間較正常組延長(P0.05)。利用統(tǒng)計學研究后結果提示抑郁癥組威斯康星卡分類測驗測試中偶然出錯數(shù)、測試錯誤總和、連線測試B類消耗時間會隨著年齡的增加而上升(r=0.312,P=0.033;r=0.324,P=0.003;r=0.615,P=0.000),威斯康星卡分類測驗測試中正確反應總數(shù)、分類總數(shù)隨年齡增加而降低(r=-0.381,P=0.009;r=-0.418,P=0.004)。除此之外,抑郁癥組威斯康星卡分類測驗測試中準確回答總和與教育年限呈正相關(r=0.356,P=0.011),而完成TMT(A、B)的時間卻隨教育年限升高而降低(r=-0.305,P=0.036;r=-0.487,P=0.003)。2.抑郁癥組腦結構中額葉(左額上回、右額上回、右額中回、右額內側回),顳葉(右顳上回、右顳極),雙側殼核和蒼白球,前扣帶回的腦灰質結構大小與對照組比較明顯縮小,差異有統(tǒng)計學意義(P0.05)。抑郁癥組中左額下回的腦結構灰質越疏松者,完成連線測試B類消耗的時間越長,反著亦然。(r=-0.458,P=0.013)。3.抑郁癥組左中央前回、左側下丘腦FA值越高者,威斯康星卡分類測驗測試的正確反映數(shù)亦高(r=0.582,P=0.003;r=0.462,P=0.021)。結論1.重度抑郁癥病人表現(xiàn)為以“執(zhí)行功能降低、注意功能受損害”為主要特征的認知損傷,且其認知損傷范圍廣泛。在威斯康星卡分類測驗測試中正確反應數(shù)與受教育程度呈正相關,與年齡呈負相關;而連線測試耗時量與年齡、受教育年限均呈負相關。2.重度抑郁癥患者雙側的額葉、顳葉、papez環(huán)路灰質萎縮程度越高,所表現(xiàn)的執(zhí)行力越低,證實了這些腦結構的損害可主要導致執(zhí)行能力的異常。
【學位授予單位】：鄭州大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：R749.4

【參考文獻】

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1 卞清濤,謝光榮;抑郁癥的認知功能障礙[J];國外醫(yī)學(精神病學分冊);2002年03期

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本文編號：1181146