受激輻射損耗（stimulated emission depletion, STED）顯微技術(shù)通過巧妙的光學(xué)設(shè)計(jì),利用純光學(xué)的方法突破了光學(xué)衍射極限,空間分辨率達(dá)到納米量級(jí),并保留了熒光顯微的許多優(yōu)點(diǎn).然而,高的損耗光強(qiáng)度限制了STED顯微技術(shù)的廣泛應(yīng)用,尤其在活細(xì)胞成像方面.本文找到了一種新型的具有良好線粒體靶向性的STED探針,具有較強(qiáng)的抗光漂白特性和較低的飽和擦除光強(qiáng)度3.5 m W (1.1 MW·cm^–2),利用該探針最高可獲得62 nm的空間分辨率,為活細(xì)胞線粒體STED超分辨成像提供了新的手段. 

【文章來源】：物理學(xué)報(bào). 2020年16期 北大核心

【文章頁數(shù)】：9 頁

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]Coherent optical adaptive technique improves the spatial resolution of STED microscopy in thick samples[J]. WEI YAN,YANLONG YANG,YU TAN,XUN CHEN,YANG LI,JUNLE QU,TONG YE.  Photonics Research. 2017(03)



本文編號(hào)：2950460