【摘要】：X線頭影測量（Cephalometrics）是口腔正畸學科進行臨床診斷、治療設計及研究工作的重要手段。其中，Coben分析法和McNamara分析法是以線距測量為主的X線頭影測量分析方法，是通過各測量值相互間的關系來分析顱頜面結構的特征，能夠全面的描述牙與牙、牙與頜骨、頜骨與頜骨、頜骨與顱底的相互關系，，可以為錯

本文編號：2612573