目的:考察考試相關因素和威脅因素對高、低考試焦慮個體的選擇性注意抑制功能的影響。方法:采用事件相關電位技術,通過情緒負啟動任務,控制刺激材料的考試相關和威脅效價,通過兩個實驗進行考察。結果:對于考試相關高、低威脅刺激和考試無關高威脅刺激,高考試焦慮個體表現(xiàn)出情緒負啟動效應減弱,負啟動條件下誘發(fā)的P2平均波幅顯著小于控制條件;對于考試無關低威脅刺激,高、低考試焦慮組都表現(xiàn)出情緒負啟動效應,但負啟動條件下誘發(fā)的P2平均波幅與控制條件差異不顯著。結論:對于考試相關的特定刺激和一般性高威脅刺激,高考試焦慮者表現(xiàn)出注意抑制困難。

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【文章目錄】：
1引言
2實驗一
    2. 1方法
        2. 1. 1被試
        2. 1. 2實驗設計及實驗范式
        2. 1. 3實驗材料
        2. 1. 4實驗流程
        2. 1. 5 EEG數(shù)據(jù)采集及分析
    2. 2結果與討論
        2. 2. 1行為結果
        2. 2. 2 ERP結果
3實驗二
    3. 1方法
        3. 1. 1被試
        3. 1. 2實驗設計及實驗范式
        3. 1. 3實驗材料
        3. 1. 4實驗流程
        3. 1. 5 EEG數(shù)據(jù)采集及分析
    3. 2結果與討論
        3. 2. 1行為結果
        3. 2. 2 ERP結果
4總討論
5結論



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