目的:考察考試相關(guān)因素和威脅因素對高、低考試焦慮個體的選擇性注意抑制功能的影響。方法:采用事件相關(guān)電位技術(shù),通過情緒負(fù)啟動任務(wù),控制刺激材料的考試相關(guān)和威脅效價,通過兩個實(shí)驗(yàn)進(jìn)行考察。結(jié)果:對于考試相關(guān)高、低威脅刺激和考試無關(guān)高威脅刺激,高考試焦慮個體表現(xiàn)出情緒負(fù)啟動效應(yīng)減弱,負(fù)啟動條件下誘發(fā)的P2平均波幅顯著小于控制條件;對于考試無關(guān)低威脅刺激,高、低考試焦慮組都表現(xiàn)出情緒負(fù)啟動效應(yīng),但負(fù)啟動條件下誘發(fā)的P2平均波幅與控制條件差異不顯著。結(jié)論:對于考試相關(guān)的特定刺激和一般性高威脅刺激,高考試焦慮者表現(xiàn)出注意抑制困難。

【文章頁數(shù)】：9 頁

【文章目錄】：
1引言
2實(shí)驗(yàn)一
    2. 1方法
        2. 1. 1被試
        2. 1. 2實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及實(shí)驗(yàn)范式
        2. 1. 3實(shí)驗(yàn)材料
        2. 1. 4實(shí)驗(yàn)流程
        2. 1. 5 EEG數(shù)據(jù)采集及分析
    2. 2結(jié)果與討論
        2. 2. 1行為結(jié)果
        2. 2. 2 ERP結(jié)果
3實(shí)驗(yàn)二
    3. 1方法
        3. 1. 1被試
        3. 1. 2實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及實(shí)驗(yàn)范式
        3. 1. 3實(shí)驗(yàn)材料
        3. 1. 4實(shí)驗(yàn)流程
        3. 1. 5 EEG數(shù)據(jù)采集及分析
    3. 2結(jié)果與討論
        3. 2. 1行為結(jié)果
        3. 2. 2 ERP結(jié)果
4總討論
5結(jié)論



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