本文關(guān)鍵詞：GaN發(fā)光二極管的老化數(shù)學(xué)模型及壽命測(cè)試方法，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：GaN發(fā)光二極管因其壽命、效率和環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的應(yīng)用。壽命問(wèn)題一直是限制GaN發(fā)光二極管應(yīng)用的核心問(wèn)題。為了研究GaN發(fā)光二極管的老化過(guò)程,計(jì)算了GaN發(fā)光二極管物理參數(shù),分析了GaN發(fā)光二極管的深能級(jí)缺陷和非輻射復(fù)合中心增加的老化原理,并且針對(duì)該原理的老化過(guò)程進(jìn)行物理原理的分析推導(dǎo),進(jìn)而建立了老化數(shù)學(xué)模型。同時(shí),利用一組實(shí)際的GaN發(fā)光二極管大應(yīng)力老化實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算,提出了利用該數(shù)學(xué)模型的GaN發(fā)光二極管壽命的測(cè)試方法和數(shù)學(xué)計(jì)算方法,并計(jì)算出實(shí)驗(yàn)GaN發(fā)光二極管的壽命數(shù)值。提出的GaN發(fā)光二極管老化數(shù)學(xué)模型對(duì)比傳統(tǒng)的阿倫紐斯模型具有針對(duì)性強(qiáng)、物理意義明顯和壽命預(yù)測(cè)準(zhǔn)等優(yōu)點(diǎn),具有很好的實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院生物光子中心;
【關(guān)鍵詞】： 光學(xué)器件 GaN 白光LED 發(fā)光二極管 老化 壽命
【分類(lèi)號(hào)】：TN312.8
【正文快照】： 1引言隨著節(jié)能環(huán)保意識(shí)的提高,固態(tài)照明技術(shù)作為下一代照明技術(shù)成為當(dāng)前研究的熱點(diǎn)[1,2]。固態(tài)照明是指使用無(wú)機(jī)物半導(dǎo)體材料發(fā)光,作為照明光源的技術(shù)。GaN被認(rèn)為是第三代半導(dǎo)體材料,具有禁帶寬度大、電子飽和漂移速度高和導(dǎo)熱性能良好等特性,特別適合于制作高頻、大功率電子

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本文編號(hào)：306571