基于共振與非共振雙線的自吸收免疫LIBS技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2021-03-31 18:43
激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)定量分析中的自吸收效應(yīng)不僅會(huì)降低譜線強(qiáng)度和增加線寬,而且使定標(biāo)結(jié)果飽和,從而影響最終的分析精度。為了消除該效應(yīng)的影響,提出了一種基于共振雙線與非共振雙線選擇的自吸收免疫激光誘導(dǎo)擊穿光譜(SAF-LIBS)技術(shù),通過比較所測(cè)譜線強(qiáng)度比值和理論強(qiáng)度比值來(lái)確定等離子體的光學(xué)薄時(shí)刻,并使用共振線與非共振線來(lái)拓展元素含量的可測(cè)量范圍。該技術(shù)可以分為定標(biāo)和定量?jī)蓚(gè)分析過程,其定標(biāo)過程為:計(jì)算待測(cè)元素的共振雙線及非共振雙線的理論強(qiáng)度比,通過對(duì)比不同待測(cè)元素含量樣品的共振雙線及非共振雙線在不同延時(shí)下的強(qiáng)度比和理論比,確定等離子體的光學(xué)薄時(shí)刻;使用一系列標(biāo)準(zhǔn)樣品建立LIBS非共振線的單變量定標(biāo)曲線;利用準(zhǔn)光學(xué)薄譜線建立共振線和非共振線的SAF-LIBS單變量分段定標(biāo)曲線。其定量分析過程為:先用非共振線和LIBS定標(biāo)曲線確定未知樣品所屬的含量分段,再用準(zhǔn)光學(xué)薄譜線以及與所屬分段的共振或非共振SAF-LIBS定標(biāo)曲線完成定量分析。對(duì)Cu元素的單變量定標(biāo)結(jié)果表明,對(duì)于共振線,最佳延時(shí)隨著樣品含Cu量的增加而增加,且只有當(dāng)含Cu量低于0.05%時(shí),才可能獲得準(zhǔn)光學(xué)薄的共振線,而隨著C...
【文章來(lái)源】:光譜學(xué)與光譜分析. 2020,40(01)北大核心EISCICSCD
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
Cu含量6%的KBr和CuO壓片樣品300~550 nm 波段典型的等離子體平均光譜
圖3(a)和(b)分別展示了含Cu 0.01%~1%和3%~60%時(shí)非共振雙線的比值隨時(shí)間的變化, 延時(shí)為200~800 ns, 圖中直線代表理論比值1.85。 圖4顯示了最佳延時(shí)與含Cu量間的關(guān)系, 其中含Cu 60%樣品所對(duì)應(yīng)的時(shí)間值由圖3(b)線性擬合得到, 在800 ns譜線壽命處對(duì)應(yīng)的Cu含量為50.7%, 這是該技術(shù)可測(cè)含量的上限。 結(jié)果表明, 隨著含Cu量的增加, 最佳延時(shí)隨之增加, 且在含Cu 0.01%~30%范圍內(nèi), 均可獲得準(zhǔn)光學(xué)薄的非共振譜線, 而當(dāng)Cu含量大于50.7%時(shí), 無(wú)法在等離子體壽命期內(nèi)捕獲到光學(xué)薄譜線。 將與最佳延時(shí)最接近的采集延時(shí)定義為tot, 對(duì)于含Cu 0.01%~0.05%, 0.1%~1%和3%~30%的樣品, 相應(yīng)的tot分別為400, 500和600 ns, 在圖3中用虛橢圓圈出。圖3 非共振雙線強(qiáng)度比隨時(shí)間的演化 (a): 含Cu 0.01%~1%樣品; (b): 含Cu 3%~60%樣品
非共振雙線強(qiáng)度比隨時(shí)間的演化 (a): 含Cu 0.01%~1%樣品; (b): 含Cu 3%~60%樣品
本文編號(hào):3111899
【文章來(lái)源】:光譜學(xué)與光譜分析. 2020,40(01)北大核心EISCICSCD
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【部分圖文】:
Cu含量6%的KBr和CuO壓片樣品300~550 nm 波段典型的等離子體平均光譜
圖3(a)和(b)分別展示了含Cu 0.01%~1%和3%~60%時(shí)非共振雙線的比值隨時(shí)間的變化, 延時(shí)為200~800 ns, 圖中直線代表理論比值1.85。 圖4顯示了最佳延時(shí)與含Cu量間的關(guān)系, 其中含Cu 60%樣品所對(duì)應(yīng)的時(shí)間值由圖3(b)線性擬合得到, 在800 ns譜線壽命處對(duì)應(yīng)的Cu含量為50.7%, 這是該技術(shù)可測(cè)含量的上限。 結(jié)果表明, 隨著含Cu量的增加, 最佳延時(shí)隨之增加, 且在含Cu 0.01%~30%范圍內(nèi), 均可獲得準(zhǔn)光學(xué)薄的非共振譜線, 而當(dāng)Cu含量大于50.7%時(shí), 無(wú)法在等離子體壽命期內(nèi)捕獲到光學(xué)薄譜線。 將與最佳延時(shí)最接近的采集延時(shí)定義為tot, 對(duì)于含Cu 0.01%~0.05%, 0.1%~1%和3%~30%的樣品, 相應(yīng)的tot分別為400, 500和600 ns, 在圖3中用虛橢圓圈出。圖3 非共振雙線強(qiáng)度比隨時(shí)間的演化 (a): 含Cu 0.01%~1%樣品; (b): 含Cu 3%~60%樣品
非共振雙線強(qiáng)度比隨時(shí)間的演化 (a): 含Cu 0.01%~1%樣品; (b): 含Cu 3%~60%樣品
本文編號(hào):3111899
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