激光誘導擊穿光譜（LIBS）定量分析中的自吸收效應(yīng)不僅會降低譜線強度和增加線寬,而且使定標結(jié)果飽和,從而影響最終的分析精度。為了消除該效應(yīng)的影響,提出了一種基于共振雙線與非共振雙線選擇的自吸收免疫激光誘導擊穿光譜（SAF-LIBS）技術(shù),通過比較所測譜線強度比值和理論強度比值來確定等離子體的光學薄時刻,并使用共振線與非共振線來拓展元素含量的可測量范圍。該技術(shù)可以分為定標和定量兩個分析過程,其定標過程為:計算待測元素的共振雙線及非共振雙線的理論強度比,通過對比不同待測元素含量樣品的共振雙線及非共振雙線在不同延時下的強度比和理論比,確定等離子體的光學薄時刻;使用一系列標準樣品建立LIBS非共振線的單變量定標曲線;利用準光學薄譜線建立共振線和非共振線的SAF-LIBS單變量分段定標曲線。其定量分析過程為:先用非共振線和LIBS定標曲線確定未知樣品所屬的含量分段,再用準光學薄譜線以及與所屬分段的共振或非共振SAF-LIBS定標曲線完成定量分析。對Cu元素的單變量定標結(jié)果表明,對于共振線,最佳延時隨著樣品含Cu量的增加而增加,且只有當含Cu量低于0.05%時,才可能獲得準光學薄的共振線,而隨著C... 

【文章來源】：光譜學與光譜分析. 2020,40(01)北大核心EISCICSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

Cu含量6%的KBr和CuO壓片樣品300～550 nm 波段典型的等離子體平均光譜

圖3(a)和(b)分別展示了含Cu 0.01%～1%和3%～60%時非共振雙線的比值隨時間的變化, 延時為200～800 ns, 圖中直線代表理論比值1.85。 圖4顯示了最佳延時與含Cu量間的關(guān)系, 其中含Cu 60%樣品所對應(yīng)的時間值由圖3(b)線性擬合得到, 在800 ns譜線壽命處對應(yīng)的Cu含量為50.7%, 這是該技術(shù)可測含量的上限。 結(jié)果表明, 隨著含Cu量的增加, 最佳延時隨之增加, 且在含Cu 0.01%～30%范圍內(nèi), 均可獲得準光學薄的非共振譜線, 而當Cu含量大于50.7%時, 無法在等離子體壽命期內(nèi)捕獲到光學薄譜線。 將與最佳延時最接近的采集延時定義為tot, 對于含Cu 0.01%～0.05%, 0.1%～1%和3%～30%的樣品, 相應(yīng)的tot分別為400, 500和600 ns, 在圖3中用虛橢圓圈出。圖3 非共振雙線強度比隨時間的演化 (a): 含Cu 0.01%～1%樣品; (b): 含Cu 3%～60%樣品

非共振雙線強度比隨時間的演化 (a): 含Cu 0.01%～1%樣品; (b): 含Cu 3%～60%樣品


本文編號：3111899