車(chē)載ATP是CTCS-2級(jí)列控系統(tǒng)的核心設(shè)備之一,針對(duì)車(chē)載ATP的組合測(cè)試,在保障設(shè)備功能安全方面具有重要意義。根據(jù)車(chē)載ATP設(shè)備接口參數(shù)的特點(diǎn),提出一種基于最優(yōu)覆蓋數(shù)組的帶約束組合測(cè)試用例集生成方法。首先,辨識(shí)出車(chē)載ATP接口參數(shù)及其約束條件;其次,基于參數(shù)映射算法,將接口參數(shù)映射到最優(yōu)覆蓋數(shù)組中重構(gòu)該覆蓋數(shù)組;然后,在重構(gòu)的覆蓋數(shù)組中移除不滿(mǎn)足約束的無(wú)效行,并擴(kuò)展覆蓋數(shù)組;最終,得到滿(mǎn)足約束條件和覆蓋強(qiáng)度的車(chē)載ATP測(cè)試用例集。以車(chē)載ATP模式轉(zhuǎn)換等三種場(chǎng)景為例,對(duì)本方法進(jìn)行了驗(yàn)證。結(jié)果表明,相比于現(xiàn)有方法,本方法生成的測(cè)試用例集普遍更加精簡(jiǎn),其規(guī)模降幅最高可達(dá)11.11%,有效降低了測(cè)試成本,提高了測(cè)試效率。 

【文章來(lái)源】：鐵道學(xué)報(bào). 2020,42(11)北大核心EICSCD

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【文章目錄】：
1 CTCS-2級(jí)列控車(chē)載ATP簡(jiǎn)介
    1.1 車(chē)載ATP及其測(cè)試環(huán)境
    1.2 車(chē)載ATP接口輸入?yún)?shù)
2 研究基礎(chǔ)
    2.1 相關(guān)定義
    2.2 基于最優(yōu)覆蓋數(shù)組的組合測(cè)試
3 車(chē)載ATP組合測(cè)試用例生成方法
    3.1 最優(yōu)覆蓋數(shù)組重構(gòu)
    3.2 覆蓋數(shù)組擴(kuò)展
4 車(chē)載ATP組合測(cè)試用例生成結(jié)果
    4.1 最優(yōu)覆蓋數(shù)組重構(gòu)
    4.2 覆蓋數(shù)組擴(kuò)展
    4.3 有效性分析
5 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于路徑優(yōu)化算法的測(cè)試序列自動(dòng)生成及驗(yàn)證[J]. 梁茨,鄭偉,李開(kāi)成,唐濤.  鐵道學(xué)報(bào). 2013(06)
[2]組合測(cè)試:原理與方法[J]. 嚴(yán)俊,張健.  軟件學(xué)報(bào). 2009(06)

碩士論文
[1]CTCS-1級(jí)列控系統(tǒng)車(chē)載設(shè)備安全性分析[D]. 王昊.北京交通大學(xué) 2017



本文編號(hào)：3184969