發(fā)布時間：2021-06-07 05:05

　　硫系玻璃指元素周期表第VIA族元素除O和Po以外S、Se、Te為基本成分,并引入一定量的其他元素如As、Ge之類電負性較弱的元素而形成的無機玻璃材料。它具有的主要特性:寬的紅外透過窗口、快的光學(xué)響應(yīng)時間、高的紅外透過率以及高的折射率。對于光學(xué)設(shè)計來說,硫系玻璃或者薄膜的折射率（n）和消光系數(shù)（k）等光學(xué)常數(shù)是很重要的參數(shù),但是由于測試技術(shù)的限制以及測試精度的不理想,使得能獲取的硫系玻璃的折射率數(shù)據(jù)是有限的,不利于紅外波段光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計。本文以Ge-Se基硫系玻璃作為研究對象,制備了一系列具有不同化學(xué)配比以及不同拓撲網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)（以平均配位數(shù)MCN表征）的玻璃樣品,主要利用橢圓偏振技術(shù)研究了硫系玻璃的光學(xué)常數(shù),重點研究如何利用橢圓偏振技術(shù)準確測量玻璃中紅外波段的折射率;折射率等光學(xué)常數(shù)與組分之間的關(guān)系以及由此反映出的化學(xué)有序（Chemical Order）與拓撲有序（Topological Order）之間的競爭關(guān)系。本文主要有以下3個工作點:第一點概述了硫系玻璃的定義、發(fā)現(xiàn)過程以及應(yīng)用領(lǐng)域,詳細地介紹了選題的背景、研究意義、研究內(nèi)容以及研究思路。通過對比獲取光學(xué)常數(shù)的不同方法得出利用橢偏儀... 

【文章來源】：寧波大學(xué)浙江省

【文章頁數(shù)】：84 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
引言
1 緒論
    1.1 硫系玻璃材料概述
    1.2 光學(xué)常數(shù)測量方法
        1.2.1 薄膜光學(xué)常數(shù)獲取方法
        1.2.2 玻璃光學(xué)常數(shù)獲取方法
    1.3 研究不同波段折射率的難點
    1.4 橢偏儀的研究進展
        1.4.1 橢偏儀發(fā)展歷程
        1.4.2 橢偏儀獨特性及應(yīng)用
        1.4.3 現(xiàn)代橢偏光譜學(xué)的展望
    1.5 選題背景及其研究意義
    1.6 研究內(nèi)容及其研究思路
    1.7 本章小結(jié)
2 橢圓偏振測量技術(shù)
    2.1 橢偏儀測量技術(shù)原理
        2.1.1 菲涅爾反射系數(shù)
        2.1.2 均方差函數(shù)
    2.2 IR-VASE MARKⅡ紅外光譜橢偏儀
    2.3 IR-VASE MARKⅡ測試方法
    2.4 本章小結(jié)
3 橢偏儀數(shù)據(jù)分析
    3.1 橢偏數(shù)據(jù)分析流程
    3.2 擬合模型的建立
        3.2.1 結(jié)構(gòu)模型
        3.2.2 色散模型
    3.3 WVASE32軟件介紹
    3.4 本章小結(jié)
4 Ge-As/Sb-S/Se玻璃制備和光學(xué)常數(shù)分析
    4.1 玻璃樣品制備
    4.2 影響測試結(jié)果因素分析
    4.3 Ge-Se基玻璃擬合模型的建立
        4.3.1 玻璃物理結(jié)構(gòu)模型的建立
        4.3.2 玻璃色散模型的建立
    4.4 中紅外波段折射率及其組分關(guān)系
        4.4.1 Ge-Sb-S/Se系列折射率
        4.4.2 Ge-As-Se系列折射率
    4.5 折射率變化所體現(xiàn)的拓撲有序與化學(xué)有序之間的競爭關(guān)系
        4.5.1 Ge-As/Sb-S/Se系列折射率
        4.5.2 Ge-As-S系列折射率
        4.5.3 折射率與電子極化率之間的關(guān)系
    4.6 本章小結(jié)
5 Ge_(11.14)As_(25.98)Se_(62.88) 薄膜制備及橢偏分析
    5.1 薄膜樣品制備
    5.2 薄膜樣品的測試結(jié)果
    5.3 Ge_(11.14)As_(25.98)Se_(62.88) 薄膜擬合模型的建立
        5.3.1 薄膜物理結(jié)構(gòu)模型的建立
        5.3.2 薄膜色散模型的建立
    5.4 Ge_(11.14)As_(25.98)Se_(62.88) 薄膜橢偏儀擬合結(jié)果
    5.5 本章小結(jié)
6 總結(jié)展望
參考文獻
在學(xué)研究成果
致謝
Abstract of Thesis
論文摘要


【參考文獻】：
期刊論文
[1]光譜型橢偏儀精確表征非晶吸收薄膜的光學(xué)常數(shù)[J]. 李江,李沛,黃峰,魏賢華,葛芳芳,李朋.  光學(xué)學(xué)報. 2015(04)
[2]利用全反射原理精確測量棱鏡折射率[J]. 周進朝,陳志青,黃佐華.  激光與光電子學(xué)進展. 2013(01)
[3]全反射法對棱鏡折射率的測定[J]. 紀延俊,杜玉杰,郭紅巖.  大學(xué)物理實驗. 2010(06)
[4]多樣品法確定類金剛石薄膜的光學(xué)常數(shù)與厚度[J]. 周毅,汪愛英.  光學(xué)學(xué)報. 2010(08)
[5]多層薄膜光學(xué)常數(shù)的橢偏法研究[J]. 徐均琪,馮小利.  光電工程. 2009(02)
[6]高精度測量光學(xué)玻璃折射率的新方法[J]. 孟慶華,向陽.  光學(xué)精密工程. 2008(11)
[7]制備工藝條件對HfO2薄膜結(jié)構(gòu)和性能的影響[J]. 劉偉,蘇小平,張樹玉,郝鵬,王宏斌,劉嘉禾.  真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報. 2008(02)
[8]橢偏儀的研究進展[J]. 楊坤,王向朝,步揚.  激光與光電子學(xué)進展. 2007(03)
[9]橢偏儀的原理和應(yīng)用[J]. 余平,張晉敏.  合肥學(xué)院學(xué)報(自然科學(xué)版). 2007(01)
[10]薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的主要測試方法[J]. 陳燕平,余飛鴻.  光學(xué)儀器. 2006(06)

博士論文
[1]Ge-Sb-Se硫系玻璃的制備、結(jié)構(gòu)及性能研究[D]. 魏文猴.重慶大學(xué) 2014



本文編號：3215926