在90°C的溫度環(huán)境下,采用水熱化學沉積法制備Zn O納米線薄膜,然后用掃描電子顯微鏡、透射光譜和X射線衍射等技術對所制備的納米薄膜進行表征。結果表明,制備的納米Zn O薄膜的光學帶隙在3.274到3.347 e V之間。調節(jié)p H值可以控制膜的孔隙率和顯微結構。SEM照片清楚地顯示兩層結構,且這兩層的空隙率不同。XRD結果顯示（002）取向的優(yōu)先生長。針對納米結構的Zn O薄膜建立一個完整的光學模型,包括Bruggeman有效介質近似、粗糙表面的光散射和O’Leary-Johnson-Lim帶間吸收模型。利用此光學模型,擬合實驗測量的納米結構Zn O薄膜的透射光譜,擬合結果同實驗結果具有很高的一致性。 

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【文章目錄】：
1 Introduction
2 Experimental
    2.1 Nanowire preparation
    2.2 Characterisation methods
3 Results and discussion
    3.1 Nanowire characterisation
    3.2 Proposed theoretical optical model
        3.2.1 Bruggeman effective medium approximation
        3.2.2 Rough surface light scattering
        3.2.3 O'Leary-Johnson-Lim(OJL)model
    3.3 Optical data fitting
4 Conclusions


【參考文獻】：
期刊論文
[1]基于新型形貌的納米結構氧化鋅高性能室溫氣體傳感器（英文）[J]. Naila ZUBAIR,Khalida AKHTAR.  Transactions of Nonferrous Metals Society of China. 2019(01)
[2]Zinc Oxide Nanostructures for NO2 Gas–Sensor Applications:A Review[J]. Rajesh Kumar,O.Al-Dossary,Girish Kumar,Ahmad Umar.  Nano-Micro Letters. 2015(02)



本文編號：3663350