滿足故障隔離率指標(biāo)的測試序列優(yōu)化差分進化算法
本文關(guān)鍵詞:滿足故障隔離率指標(biāo)的測試序列優(yōu)化差分進化算法
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【摘要】:最優(yōu)測試序列的設(shè)計是故障診斷過程中必須解決的非確定多項式(Non-deterministic polynomial,NP)完全問題。基于自適應(yīng)差分進化算法,提出一種慣性速度差分進化(Inertial velocity differential evolution,IVDE)算法,通過增加額外的慣性速度項求解復(fù)雜電子系統(tǒng)最優(yōu)測試序列問題(Optimal test sequence problem,OTP)。為求解該優(yōu)化問題設(shè)計了個體的狀態(tài)與測試序列編碼方式,構(gòu)建了包含故障隔離率(Fault isolation rate,FIR)等指標(biāo)的個體適應(yīng)度函數(shù),通過優(yōu)化生成診斷決策樹來減少測試設(shè)備和測試成本。仿真結(jié)果表明,IVDE算法可以求得既滿足FIR要求,又減少測試成本的測試序列。與粒子群優(yōu)化算法(Particle swarm optimizer,PSO)、遺傳算法(Genetic algorithm,GA)等其他算法相比,IVDE可以求解OTP,得到更好的解。
【作者單位】: 江西理工大學(xué)軟件學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】: 差分進化 進化計算 故障隔離率 測試性
【基金】:江西省自然科學(xué)基金(20132BAB201044)資助項目 江西省高等學(xué)校科技落地計劃(KJLD12071)資助項目
【分類號】:V267;TP18
【正文快照】: 引言復(fù)雜系統(tǒng)如航天系統(tǒng)或商用飛機對系統(tǒng)的安全性和關(guān)鍵任務(wù)的可靠性要求高[1],需要高額的維護費用。高昂的維護成本往往在設(shè)計階段未充分考慮可測性需求。為提高可測性設(shè)計,測試序列的設(shè)計優(yōu)化是故障診斷關(guān)注的重點,但它是一個具有挑戰(zhàn)性的非確定多項式問題(Non-determinist
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,本文編號:704247
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