針對航天器用高電阻率薄膜材料的電阻率測試問題進(jìn)行了研究。通過對現(xiàn)有高阻值電阻率測試環(huán)形電極設(shè)計方法進(jìn)行仿真理論分析,結(jié)合數(shù)學(xué)模型推導(dǎo),提出了一種環(huán)形電極有效測試寬度及尺寸設(shè)計取值方法,并制成薄膜材料測試用環(huán)形電極裝置。通過實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)了航天器用薄膜材料表面電阻率和體電阻率測量,相對示值誤差可控制在9%范圍內(nèi);該裝置可應(yīng)用于體積電阻率在10⁵～10¹⁸Ω·cm的航天器用復(fù)合材料電阻率的測試。 

【文章來源】：計量學(xué)報. 2020,41(03)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

使用環(huán)形三電極法測量電阻率示意圖

本文設(shè)計的電阻率測試方案的系統(tǒng)框圖如圖2所示，主要包含靜電計或皮安表、高準(zhǔn)確度電壓源、不銹鋼環(huán)形電極以及屏蔽測試盒。一般需要將環(huán)形電極固定在屏蔽測試盒里以減小雜散電場的干擾可能帶來的測量誤差。如果樣品是堅硬的材料，如玻璃、環(huán)氧樹脂或陶瓷，而電極也是堅硬的，那么應(yīng)該使用導(dǎo)電橡膠讓電極和被測樣品實(shí)現(xiàn)更好的接觸;同時，靜電計或皮安表應(yīng)該用低噪聲測試線接到屏蔽測試盒里與電極連接，盡量使大部分測試線和接頭均放到屏蔽測試盒中。本實(shí)驗(yàn)中選用6517B靜電計輸出電壓并讀取通過環(huán)形電極的電流。

自研環(huán)形電極裝置圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3453098