星載T/R組件加速壽命試驗方法
發(fā)布時間:2021-10-16 14:36
T/R組件作為相控陣天線的核心部件,結構復雜、體積小、集成度高,其可靠性直接影響整機壽命.國內星載毫米波T/R組件尚無長期在軌工作經歷,缺乏有效的加速壽命試驗方法,為支撐星載毫米波相控陣天線可靠性設計及壽命評估,需開展T/R組件加速壽命試驗方法研究.本文研究T/R組件原理及失效機理,結合國內外加速壽命試驗研究現狀,提出T/R組件加速壽命試驗流程,分析比較激活能預估驗證法、可靠性預計驗證法和多應力評估試驗法三種不同試驗方法的試驗流程、試驗方法選取原則及試驗參數確定等內容,為開展星載毫米波相控陣天線T/R組件加速壽命試驗提供指南.
【文章來源】:空間控制技術與應用. 2016,42(03)北大核心CSCD
【文章頁數】:6 頁
【文章目錄】:
0 引言
1 T/R組件原理簡述
2 T/R組件失效機理分析
3 加速壽命試驗方法研究
3.1 試驗前提
3.2 篩選試驗
3.3 加速壽命試驗方法
3.3.1 激活能預估驗證試驗法
3.3.2 可靠性預計驗證試驗法
3.3.3 多應力評估試驗法
3.4 方法小結
3.5 應用案例
4 結論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]功率MMIC芯片加速壽命試驗方法研究[J]. 周俊,高立. 新型工業(yè)化. 2014(07)
[2]一種星載電子產品老練試驗加速因子估計方法[J]. 尤明懿. 電子產品可靠性與環(huán)境試驗. 2014(01)
[3]星上單機級電子產品加速壽命試驗方法研究[J]. 董澍,張亮,劉春雷,朱煒. 質量與可靠性. 2013(05)
[4]加速試驗中失效機理一致性的判別方法[J]. 郭春生,謝雪松,馬衛(wèi)東,程堯海,李志國. 半導體學報. 2006(03)
[5]GaAs MESFET可靠性及快速評價新方法的研究[J]. 李志國,宋增超,孫大鵬,程堯海,張萬榮,周仲蓉. 半導體學報. 2003(08)
[6]熱應力對半導體分立器件失效率的影響[J]. 莫郁薇. 電子產品可靠性與環(huán)境試驗. 1996(05)
本文編號:3439985
【文章來源】:空間控制技術與應用. 2016,42(03)北大核心CSCD
【文章頁數】:6 頁
【文章目錄】:
0 引言
1 T/R組件原理簡述
2 T/R組件失效機理分析
3 加速壽命試驗方法研究
3.1 試驗前提
3.2 篩選試驗
3.3 加速壽命試驗方法
3.3.1 激活能預估驗證試驗法
3.3.2 可靠性預計驗證試驗法
3.3.3 多應力評估試驗法
3.4 方法小結
3.5 應用案例
4 結論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]功率MMIC芯片加速壽命試驗方法研究[J]. 周俊,高立. 新型工業(yè)化. 2014(07)
[2]一種星載電子產品老練試驗加速因子估計方法[J]. 尤明懿. 電子產品可靠性與環(huán)境試驗. 2014(01)
[3]星上單機級電子產品加速壽命試驗方法研究[J]. 董澍,張亮,劉春雷,朱煒. 質量與可靠性. 2013(05)
[4]加速試驗中失效機理一致性的判別方法[J]. 郭春生,謝雪松,馬衛(wèi)東,程堯海,李志國. 半導體學報. 2006(03)
[5]GaAs MESFET可靠性及快速評價新方法的研究[J]. 李志國,宋增超,孫大鵬,程堯海,張萬榮,周仲蓉. 半導體學報. 2003(08)
[6]熱應力對半導體分立器件失效率的影響[J]. 莫郁薇. 電子產品可靠性與環(huán)境試驗. 1996(05)
本文編號:3439985
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