圖像壓縮編碼技術(shù)是衛(wèi)星探測(cè)領(lǐng)域中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。鑒于衛(wèi)星探測(cè)任務(wù)具有在軌工作周期長(zhǎng)、風(fēng)險(xiǎn)高、開發(fā)代價(jià)大的特點(diǎn),對(duì)星載圖像壓縮系統(tǒng)在地面進(jìn)行的測(cè)試便至關(guān)重要。而真正的航天相機(jī)由于造價(jià)高、開發(fā)周期長(zhǎng)等原因很難直接應(yīng)用于項(xiàng)目的測(cè)試,為了確保圖像壓縮系統(tǒng)研發(fā)和測(cè)試工作的有效開展,解決星載圖像壓縮系統(tǒng)在研制開發(fā)和整機(jī)聯(lián)試階段的系統(tǒng)驗(yàn)證問題,設(shè)計(jì)一套相關(guān)配套測(cè)試設(shè)備顯得越來越重要。本文首先闡述了測(cè)試在項(xiàng)目研制和開發(fā)各個(gè)階段所起到的關(guān)鍵作用,對(duì)測(cè)試的核心原則和基本過程進(jìn)行了概括總結(jié),并對(duì)項(xiàng)目測(cè)試中測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法和實(shí)際測(cè)試方法進(jìn)行了介紹,為星載圖像壓縮系統(tǒng)的集成確認(rèn)測(cè)試打下理論基礎(chǔ)。進(jìn)一步地本文對(duì)星載圖像壓縮系統(tǒng)進(jìn)行了介紹;根據(jù)星載圖像壓縮系統(tǒng)的特點(diǎn)對(duì)與之配套的地面檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行需求分析;總結(jié)歸納了地檢設(shè)備應(yīng)具備的功能與性能指標(biāo);并對(duì)地面檢測(cè)設(shè)備的整體架構(gòu)進(jìn)行軟硬件劃分。在上述理論基礎(chǔ)上,本文參考以往項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)以及所選設(shè)備具體研制要求,著重對(duì)地面檢測(cè)設(shè)備的硬件設(shè)計(jì)部分進(jìn)行了設(shè)計(jì)和改進(jìn)。地面檢測(cè)設(shè)備的硬件電路設(shè)計(jì)采用Xilinx公司推出的Zynq-7000系列開發(fā)板作為核心控制單元,調(diào)用了基于DDR3的... 

【文章來源】：西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：76 頁

【文章類型】：碩士

【部分圖文】：

傳統(tǒng)的地面檢測(cè)設(shè)備示意圖

西安電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文8圖2.1 項(xiàng)目測(cè)試階段劃分確認(rèn)測(cè)試過程主要包括確認(rèn)測(cè)試計(jì)劃的建立和確認(rèn)測(cè)試的具體實(shí)施與執(zhí)行過程，其中確認(rèn)測(cè)試的具體實(shí)施與執(zhí)行過程需要根據(jù)測(cè)試計(jì)劃來指導(dǎo)，由測(cè)試計(jì)劃規(guī)定，而測(cè)試計(jì)劃又需要根據(jù)測(cè)試具體實(shí)施與執(zhí)行過程進(jìn)行調(diào)整和完善[15][16]。測(cè)試計(jì)劃是利用測(cè)試設(shè)備來對(duì)具體項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)測(cè)試要求，制定包括測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試規(guī)劃、配置管理、資源管理、測(cè)試實(shí)施和測(cè)試管理等活動(dòng)及其相關(guān)的人員分配、輸入輸出和約束條件等，最終確定相關(guān)的測(cè)試準(zhǔn)則和方法并形成文件。整個(gè)確認(rèn)測(cè)試的具體實(shí)施與執(zhí)行過程又分為四個(gè)階段進(jìn)行，包括：測(cè)試準(zhǔn)備階段、測(cè)試實(shí)施與執(zhí)行階段、測(cè)試結(jié)果報(bào)告分析階段及回歸測(cè)試階段。確認(rèn)測(cè)試執(zhí)行的過程必須依照相關(guān)的測(cè)試評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，制定相應(yīng)的測(cè)試規(guī)范，利用確認(rèn)測(cè)試可能的測(cè)試方法，借助相應(yīng)的測(cè)試工具，逐一測(cè)試評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)中所有的測(cè)試項(xiàng)。測(cè)試的具體實(shí)施與執(zhí)行是在已建立的測(cè)試管理體系下展開

第二章 測(cè)試方法學(xué)11圖2.2 黑盒測(cè)試示意圖白盒測(cè)試，又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試或者透明盒測(cè)試，是基于代碼的測(cè)試。其主要目的是對(duì)程序內(nèi)部各個(gè)模塊的覆蓋率進(jìn)行測(cè)試，設(shè)計(jì)測(cè)試用例對(duì)程序中語句的覆蓋率和分支覆蓋率進(jìn)行分析，保證代碼的高效性與準(zhǔn)確性。白盒測(cè)試的基本原則是：條件覆蓋、路徑覆蓋、語句覆蓋、分支覆蓋。白盒測(cè)試的常用方法有靜態(tài)結(jié)構(gòu)分析法、代碼檢查法、邏輯覆蓋法、域測(cè)試、符號(hào)測(cè)試和路徑覆蓋等。其中運(yùn)用最為廣泛的是基本路徑測(cè)試法：基本路徑測(cè)試法是在程序控制流圖的基礎(chǔ)上，通過分析控制構(gòu)造的環(huán)路復(fù)雜性，導(dǎo)出基本可執(zhí)行路徑集合，從而設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法。設(shè)計(jì)出的測(cè)試用例要保證在測(cè)試中程序的每個(gè)可執(zhí)行語句至少執(zhí)行一次[23][24]。白盒測(cè)試的測(cè)試示意圖如圖 2.3所示：圖2.3 白盒測(cè)試示意圖2.5.3 Alpha 測(cè)試與 Beta 測(cè)試Alpha 測(cè)試是指在開發(fā)環(huán)境下對(duì)項(xiàng)目產(chǎn)品進(jìn)行的測(cè)試，是在項(xiàng)目產(chǎn)品正式投入使

【參考文獻(xiàn)】：
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碩士 共10條
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