本文以相控陣多普勒計程儀（DVL）為對象,在遺傳算法的基礎(chǔ)上引入可靠性評估,通過仿真分析,對陣元尺寸、相位差、波長等不確定性因素對帶有可靠性約束的指向性、增益等性能指標(biāo)進行優(yōu)化。結(jié)果表明該方法一定程度上適用于性能與可靠性優(yōu)化設(shè)計,可用于產(chǎn)品的設(shè)計過程中。 

【文章來源】：環(huán)境技術(shù). 2020,38(06)

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

密排型相控陣換能器布陣圖

遺傳算法優(yōu)化和可靠性評估流程

圖2 遺傳算法優(yōu)化和可靠性評估流程2)按照表1的參數(shù)分布及范圍進行不同參數(shù)條件下的仿真試驗設(shè)計,共仿真1 000次。本文的參數(shù)分布基于理論分析進行了假設(shè),包括正態(tài)分布、極值分布和均勻分布。實際應(yīng)用中以試驗或現(xiàn)場數(shù)據(jù)為準(zhǔn)。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3491117