在統(tǒng)計過程控制中,實際數(shù)據(jù)的整體特征往往為偏態(tài)分布且伴隨大量的異常值。異常值的存在與自相關(guān)現(xiàn)象使得常規(guī)控制圖的控制限間距發(fā)生變化,導(dǎo)致控制系統(tǒng)在檢測過程中發(fā)生漏發(fā)或虛發(fā)警報的現(xiàn)象。此外,ARMA模型對異常值敏感,導(dǎo)致參數(shù)估計出現(xiàn)誤差,得出的結(jié)論與實際不符。針對異常值產(chǎn)生的影響,本文提出了一種具有強抗差性的穩(wěn)健ARMA殘差控制圖,具體工作如下:第一,針對異常值產(chǎn)生的原因,本文使用常規(guī)控制圖直觀檢測含有異常值的數(shù)據(jù),研究說明異常值的存在使控制圖的控制限間距被拉大,異常值出現(xiàn)“遮蔽效應(yīng)”現(xiàn)象,從而導(dǎo)致控制圖漏報異常值。第二,矩估計的敏感性分析表明傳統(tǒng)估計量對異常值并不具備耐抗性,時間序列模型對異常值敏感,本文提出了穩(wěn)健的自協(xié)方差函數(shù)以克服異常值的影響,并建立穩(wěn)健ARMA殘差控制圖的具體算法。第三,為了克服數(shù)據(jù)中大量異常值的影響,本文提出穩(wěn)健估計IGGⅢ權(quán)函數(shù)對原序列進行穩(wěn)健變換。研究得出權(quán)函數(shù)的最適調(diào)節(jié)參數(shù)使處理后的數(shù)據(jù)能夠保留原序列的大量信息。接著建立準(zhǔn)確的ARMA模型,計算出殘差序列以構(gòu)造穩(wěn)健ARMA殘差控制圖。第四,仿真數(shù)據(jù)與實證檢驗表明:當(dāng)序列中含有異常值時,常規(guī)殘差控制圖的檢測性能...

【文章頁數(shù)】：58 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
1 前言
    1.1 研究背景
    1.2 研究意義
    1.3 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.3.1 穩(wěn)健統(tǒng)計方法的發(fā)展現(xiàn)狀
        1.3.2 穩(wěn)健統(tǒng)計方法的應(yīng)用研究現(xiàn)狀
        1.3.3 穩(wěn)健SPC殘差控制圖的研究發(fā)展現(xiàn)狀
    1.4 研究目標(biāo)
    1.5 研究框架及論文創(chuàng)新之處
2 異常值的影響研究
    2.1 異常值產(chǎn)生的因素
    2.2 異常值對常規(guī)控制圖的影響
    2.3 異常值對時間序列模型的影響研究
    2.4 本章小結(jié)
3 穩(wěn)健估計的重要特征及其方法
    3.1 穩(wěn)健估計的衡量指標(biāo)
    3.2 穩(wěn)健估計的位置測度與尺度測度
    3.3 本章小結(jié)
4 穩(wěn)健ARMA殘差控制圖的構(gòu)造
    4.1 引言
    4.2 平穩(wěn)時間序列模型
    4.3 穩(wěn)健自協(xié)方差函數(shù)的構(gòu)建
    4.4 穩(wěn)健ARMA殘差控制圖的構(gòu)造
    4.5 本章小結(jié)
5 穩(wěn)健估計方法的模擬研究及其應(yīng)用分析
    5.1 引言
    5.2 模擬比較分析
    5.3 實證檢驗
        5.3.1 實例數(shù)據(jù)的基本統(tǒng)計分析
        5.3.2 穩(wěn)健ARMA殘差控制圖的應(yīng)用
    5.4 本章小結(jié)
6 總結(jié)與展望
    6.1 總結(jié)
    6.2 展望
參考文獻
附錄
    附錄1 主要數(shù)據(jù)
    附錄2 R語言代碼
后記
致謝



本文編號：3923261