本文首先從目前記錄介質(zhì)產(chǎn)業(yè)應(yīng)用上的熱點(diǎn)技術(shù)出發(fā),對(duì)其進(jìn)行全方位的專利分析,力爭(zhēng)在我國(guó)大面積產(chǎn)業(yè)化之前挖掘有價(jià)值的專利信息,把握該領(lǐng)域?qū)＠l(fā)展現(xiàn)狀和發(fā)展方向,掌握我國(guó)在光記錄領(lǐng)域與發(fā)達(dá)國(guó)家的差距,得到制定政策的基礎(chǔ);然后,從光記錄介質(zhì)尤其是藍(lán)光介質(zhì)的專利分析結(jié)果中尋找記錄介質(zhì)審查標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)問(wèn)題,包括記錄介質(zhì)的判斷標(biāo)準(zhǔn)、客體的認(rèn)定、技術(shù)方案的判斷等,對(duì)我國(guó)專利局的記錄介質(zhì)審查標(biāo)準(zhǔn)從DVD時(shí)代延續(xù)到藍(lán)光BD時(shí)代的發(fā)展歷程和存在問(wèn)題進(jìn)行歸納和整理,發(fā)掘現(xiàn)有專利審查標(biāo)準(zhǔn)在適應(yīng)法律法規(guī)變化和產(chǎn)業(yè)變化上的不足,最后提出切合我國(guó)國(guó)情的關(guān)于信息記錄技術(shù)的申請(qǐng)文件撰寫和審查標(biāo)準(zhǔn)的完善建議,通過(guò)相應(yīng)的建議推動(dòng)我國(guó)信息記錄技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展,為我國(guó)在信息記錄技術(shù)領(lǐng)域的知識(shí)產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略提供參考意見(jiàn)。 

【文章來(lái)源】：中國(guó)政法大學(xué)北京市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：51 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
引言
第一章 信息記錄介質(zhì)發(fā)明專利申請(qǐng)總體分析
    第一節(jié) 記錄介質(zhì)的概念及技術(shù)發(fā)展歷程
        一、光記錄介質(zhì)
        二、磁記錄介質(zhì)
        三、半導(dǎo)體記錄介質(zhì)
    第二節(jié) 記錄介質(zhì)全球?qū)＠暾?qǐng)分析
        一、專利趨勢(shì)
        二、區(qū)域?qū)＠季?br>        三、重點(diǎn)技術(shù)專利
        四、主要申請(qǐng)人
    第三節(jié) 中國(guó)記錄介質(zhì)專利申請(qǐng)分析
        一、專利趨勢(shì)
        二、重點(diǎn)技術(shù)專利
        三、主要申請(qǐng)人
        四、分析結(jié)論
第二章 國(guó)外記錄介質(zhì)專利審查狀況研究
    第一節(jié) 各國(guó)對(duì)“信息記錄介質(zhì)”的專利審查標(biāo)準(zhǔn)
        一、美國(guó)
        二、歐洲
        三、日本、韓國(guó)
    第二節(jié) 國(guó)外主要專利局對(duì)“計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)”審查標(biāo)準(zhǔn)與我國(guó)的區(qū)別
        一、對(duì)以計(jì)算機(jī)程序?yàn)樘卣鞯挠?jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的審查標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)別
        二、對(duì)以“應(yīng)用格式”限定的記錄介質(zhì)的審查標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)別
    第三節(jié) 國(guó)外記錄介質(zhì)專利審查制度的借鑒意義
        一、專利審查標(biāo)準(zhǔn)要與國(guó)內(nèi)行業(yè)發(fā)展?fàn)顩r相適應(yīng)
        二、專利審查標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與時(shí)俱進(jìn)，適時(shí)調(diào)整
第三章 我國(guó)“記錄介質(zhì)”專利審查標(biāo)準(zhǔn)及其完善
    第一節(jié) 我國(guó)目前的專利審查標(biāo)準(zhǔn)及存在的問(wèn)題
        一、對(duì)以物理結(jié)構(gòu)特征為主要特征的記錄介質(zhì)的審查標(biāo)準(zhǔn)
        二、對(duì)以邏輯結(jié)構(gòu)為主要特征的記錄介質(zhì)的審查標(biāo)準(zhǔn)及其存在的問(wèn)題
        三、對(duì)所記錄的計(jì)算機(jī)程序或所記錄的信息和/或方法為主要特征的記錄介質(zhì)的審查標(biāo)準(zhǔn)及其存在的問(wèn)題
    第二節(jié) 對(duì)現(xiàn)有審查中存在問(wèn)題的改進(jìn)建議
        一、明確判斷的標(biāo)準(zhǔn)，統(tǒng)一審查結(jié)論
        二、適當(dāng)拓寬對(duì)信息記錄領(lǐng)域“特殊審查”的范圍
        三、審查業(yè)務(wù)部門之間要加強(qiáng)溝通交流，統(tǒng)一審查標(biāo)準(zhǔn)
    第三節(jié) 對(duì)我國(guó)“記錄介質(zhì)”領(lǐng)域?qū)＠贫壬系钠渌ㄗh
        一、記錄介質(zhì)領(lǐng)域應(yīng)建立專利分析與專利審查的聯(lián)動(dòng)機(jī)制
        二、鼓勵(lì)企業(yè)自主創(chuàng)新，促進(jìn)企業(yè)建立完善的知識(shí)產(chǎn)權(quán)體制
        三、確立正確的專利申請(qǐng)策略
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
致謝



本文編號(hào)：2994265