本文對磁共振成像系統(tǒng)低對比度分辨力檢測過程中的影響因素展開研究,我們將其作為變量采用自旋回波序列掃描ACR體模,在得到的檢測層面上測量低對比度分辨力。通過分析各類因子的形成過程和原理,并在處理圖像數(shù)據(jù)后對實驗結(jié)果進行比較可以發(fā)現(xiàn),層面定位的準(zhǔn)確性影響了低對比度分辨力模塊的顯示,造成檢測值的降低,而偽影的存在及掃描參數(shù)的改變也將給結(jié)果帶來不同程度的誤差。能夠改變結(jié)果的因素有很多,工作人員在檢測時需要依據(jù)問題產(chǎn)生的原因?qū)ΠY下藥,對空間位置的準(zhǔn)確度和成像過程的參數(shù)選擇進行校準(zhǔn),保證檢測結(jié)果的真實性和有效性。在出現(xiàn)結(jié)果偏差較大的情況時應(yīng)格外注重排除其帶來的影響,并可借此為依據(jù)規(guī)劃專機專用的檢測標(biāo)準(zhǔn)及誤差范圍,為建立周期性圖像質(zhì)量控制檢測的基準(zhǔn)曲線和漂移程度標(biāo)準(zhǔn)提供理論依據(jù),從而確保系統(tǒng)時間性能曲線的有效性,幫助維持設(shè)備穩(wěn)定運行。

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
引言
1 材料與方法
    1.1 設(shè)備與參數(shù)
    1.2 常規(guī)檢測流程
2 結(jié)果
    2.1 層面定位的準(zhǔn)確性
    2.2 采集矩陣的大小
    2.3 設(shè)備靜磁場強度
    2.4 濾波
    2.5 偽影
3 討論
4 結(jié)論



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