癲癇腦損傷(epilepsy brain damage EBD)是指癲癇反復(fù)發(fā)作未得到有效控制或癲癇持續(xù)狀態(tài)對(duì)腦組織造成的損傷。長(zhǎng)期、持續(xù)的癲癇發(fā)作會(huì)對(duì)腦組織產(chǎn)生嚴(yán)重影響,是引起兒童智力障礙及精神行為異常的重要原因,嚴(yán)重影響患兒今后的生活質(zhì)量。目前癲癇腦損傷的發(fā)病機(jī)制仍不十分清楚,因此,研究癲癇腦損傷的發(fā)病機(jī)制成為一個(gè)刻不容緩的問(wèn)題。 內(nèi)質(zhì)網(wǎng)是真核細(xì)胞中的細(xì)胞器,可調(diào)節(jié)Ca2+濃度及負(fù)責(zé)蛋白質(zhì)轉(zhuǎn)運(yùn),任何影響Ca2+濃度或者導(dǎo)致蛋白質(zhì)錯(cuò)誤折疊及轉(zhuǎn)運(yùn)的因素,都可引起內(nèi)質(zhì)網(wǎng)應(yīng)激(endoplasmic reticulum stress, ERS),從而引起一系列的細(xì)胞內(nèi)信號(hào)轉(zhuǎn)導(dǎo)及異�；蚣せ�。已有實(shí)驗(yàn)研究證實(shí),凋亡是癲癇腦損傷的主要病理表現(xiàn)形式,目前主要是由三條信號(hào)轉(zhuǎn)導(dǎo)通路來(lái)調(diào)控細(xì)胞凋亡：線粒體通路、死亡受體通路、內(nèi)質(zhì)網(wǎng)應(yīng)激通路。內(nèi)質(zhì)網(wǎng)應(yīng)激作為一種新型的細(xì)胞凋亡通路,與癲癇腦損傷關(guān)系密切。故研究?jī)烧咧g的關(guān)系,是近幾年來(lái)研究的熱點(diǎn)。 促紅細(xì)胞生成素是近幾年來(lái)新發(fā)現(xiàn)的一種腦保護(hù)劑,它可通過(guò)抗凋亡、抗氧化等反應(yīng)來(lái)減輕對(duì)細(xì)胞的損傷,但其在內(nèi)質(zhì)網(wǎng)應(yīng)激通路中作用機(jī)制如何,尚無(wú)相關(guān)報(bào)道。故本實(shí)驗(yàn)就是采用...

【文章頁(yè)數(shù)】：59 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
中英文縮略詞對(duì)照表
1 引言
2 材料與方法
3 結(jié)果
4 討論
5 結(jié)論
6 附圖
參考文獻(xiàn)
綜述
    參考文獻(xiàn)
致謝
個(gè)人簡(jiǎn)歷及在校期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文及成果



本文編號(hào)：3773927