安氏Ⅱ類Ⅰ分類不同垂直骨面型的下頜平面角在治療前后的變化及因素分析
發(fā)布時間:2024-12-21 20:41
目的:探討安氏Ⅱ類Ⅰ分類不同垂直骨面型的錯牙合畸形患者在矯治前后的下頜平面角的變化情況,為臨床治療提供參考意義。方法:選擇在大連醫(yī)科大學(xué)附屬第二醫(yī)院口腔正畸科矯治結(jié)束的安氏Ⅱ類Ⅰ分類錯牙合畸形患者30例,年齡在18歲-25歲之間,且上下頜骨矢狀向發(fā)育正常具有不同垂直骨面型,矯治療程在30個月內(nèi),這些患者均采用直絲弓矯治技術(shù)。在同一條件下拍攝治療前后的頭顱側(cè)位片,并由同一名操作者在一段時間內(nèi)利用同一軟件Veceph5.0進行描圖定點,得出測量結(jié)果,每張X線片測量三次取均值。根據(jù)測量所得下頜平面角FMA(眼耳平面與下頜平面的交角)的值進行分組:(FMA>28°為高角組、FMA<22°為低角組、22°≤FMA≤28°為均角組)。在各組內(nèi)分別測量FMA下頜平面角,OCC-PLANE牙合平面角,FHI后前面高比,Z-ANGLE Z角在矯治前后的變化數(shù)值。全部測量數(shù)據(jù)用SPSS17.0統(tǒng)計軟件進行分析,對矯治前后指標(biāo)、變化進行配對t檢驗。從而對下頜平面角在矯治前后的變化進行探討。結(jié)果:(1)通過對安氏Ⅱ類Ⅰ分類高角組患者在治療前后的測量數(shù)值進行配對t檢驗,得出FMA、OCC、FHI、及Z...
【文章頁數(shù)】:44 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
本文編號:4018877
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【部分圖文】:
圖1頭影測量標(biāo)志點示意圖
大連醫(yī)科大學(xué)碩士學(xué)位論文.頭影測量分析組均在同一條件下拍攝治療前后的X線頭顱側(cè)位片,并由同一名操作者在一段間內(nèi)利用同一軟件Veceph5.0進行描圖定點,每張X線片測量三次取均值。本驗包含了以下測量標(biāo)志點(圖1)及測量平面(圖2)、測量項目(圖3)。確定顱頜牙標(biāo)....
圖2頭影測量平面示意圖
圖2頭影測量平面示意圖SN:前顱底平面,為蝶鞍點S與鼻根點N的連線;FH:眼耳平面,為耳點P與眶點Or的連線;PP:腭平面,為前鼻棘點ANS與后鼻棘點PNS的連線;OP:牙合平面,以第一磨牙的咬合中點與上下中切牙點間距的中點連線。MP:下頜平面,....
圖3頭影測量項目
圖3頭影測量項目FMA:下頜平面角,眼耳平面FH與下頜平面MP的交角;OCC-PLANE:牙合平面角,牙合平面OP與眼耳平面FH的交角;Z-ANGLE:Z角,軟組織頦前點Pos至上唇突點UL或下唇突點LL連線與眼耳平FH的交角;FHI:后前面....
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