目的:用幾何形態(tài)測(cè)量法對(duì)不同垂直骨面型下頜骨和顱底的形態(tài)特征進(jìn)行比較研究。 方法:(1)隨機(jī)選取安氏骨性Ⅰ類錯(cuò)牙合高角、低角和均角兒童的頭顱定位側(cè)位片各30張,掃描側(cè)位片后確定并數(shù)字化下頜骨的8個(gè)標(biāo)志點(diǎn),然后用Procrustes重疊法得出三種下頜骨的平均形狀,最后用薄板曲線法和EDMA法比較安氏Ⅰ類錯(cuò)牙合不同垂直骨面型下頜骨的形態(tài)特征。(2)在上述掃描后的高角和低角組的側(cè)位片上確定并數(shù)字化顱底的13個(gè)標(biāo)志點(diǎn),用Procrustes重疊法得出高低角組患者顱底的平均形狀,然后用薄板曲線法比較骨性Ⅰ類錯(cuò)牙合高低角錯(cuò)合顱底形態(tài)特征。 結(jié)果:(1)從低角到高角,下頜骨的形態(tài)改變趨勢(shì)如下:①下頜升支逐漸變短;②下頜角度逐漸增大;③頦部逐漸向后向下旋轉(zhuǎn);④Id-Pg距逐漸增大;⑤Ar點(diǎn)相對(duì)于Co點(diǎn)向前移位。(2)低角患者前顱底和后顱底繞S點(diǎn)相向旋轉(zhuǎn),顱底角減小,蝶鞍復(fù)合體區(qū)擴(kuò)大;高角患者前顱底和后顱底繞S點(diǎn)相背旋轉(zhuǎn),顱底角增大,蝶鞍復(fù)合體區(qū)縮小。 結(jié)論:(1)幾何形態(tài)測(cè)量法是一種研究下頜骨和顱底形態(tài)的有效方法,能夠去除物體大小、位置和旋轉(zhuǎn)等影響因素,準(zhǔn)確反應(yīng)不同垂直骨面型下頜骨和顱...

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【學(xué)位級(jí)別】：碩士

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中文摘要
Abstract
前言
研究背景
實(shí)驗(yàn)方法和過(guò)程
結(jié)果
討論
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
在校期間研究成果
致謝



本文編號(hào)：4017531