目的:采用顯微CT(Micro-CT)研究下頜第一前磨牙,測量其與樁核冠修復(fù)相關(guān)的解剖數(shù)據(jù)。方法:收集47例離體下頜第一前磨牙,采用顯微CT掃描,區(qū)分I類與非I類根管,選取釉牙骨質(zhì)界(cemento-enamel junction, CEJ)等多個平面,分別利用軟件測量根徑、根管徑、根管壁厚度、根面溝等解剖數(shù)據(jù),進(jìn)行統(tǒng)計分析。結(jié)果:該研究中I類根管占比59. 57%,與非I類根管牙齒外部形態(tài)解剖數(shù)據(jù)無統(tǒng)計學(xué)差異。距根尖4mm處近遠(yuǎn)中根管壁平均厚度分別為0. 91mm、0. 93mm,距離6mm時近遠(yuǎn)中壁平均厚度分別為1. 03mm. 1. 07mm,但數(shù)值變異較大。根面溝影響根管形態(tài),容易出現(xiàn)薄弱根管壁。結(jié)論:采用Micro-CT可準(zhǔn)確重建牙體并進(jìn)行相關(guān)數(shù)據(jù)測量。下頜第一前磨牙根管解剖結(jié)構(gòu)復(fù)雜,根管樁長度盡量設(shè)置在距根尖4mm以上,尤其存在根面溝時應(yīng)對薄弱側(cè)壁更加謹(jǐn)慎。

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【部分圖文】：

圖1非I類根管指標(biāo)測量示意圖

1.3統(tǒng)計學(xué)分析圖2牙齒各截面測量指標(biāo)示意圖

圖2牙齒各截面測量指標(biāo)示意圖

圖1非I類根管指標(biāo)測量示意圖所有測量由同一人操作，每個數(shù)據(jù)測量3次，取平均值。使用SPSS23(SPSSInc,Chicago,IL,USA)進(jìn)行統(tǒng)計分析，對所有計量資料均進(jìn)行描述性統(tǒng)計，對I型根管和非I型根管各項(xiàng)數(shù)據(jù)分別經(jīng)過正態(tài)性和方差齊性檢驗(yàn)后采用t檢驗(yàn)、非參數(shù)秩和檢驗(yàn)或....

圖3根面溝與根管峽在牙根的分布

本實(shí)驗(yàn)著眼牙體缺損后的樁核冠修復(fù)，故未分析其復(fù)雜根管分型及根尖區(qū)結(jié)構(gòu)，主要測量了多個截面的根徑、根管徑、管壁厚度等與修復(fù)相關(guān)因素。文獻(xiàn)中多采用CEJ與根尖之間的三等分平面，本實(shí)驗(yàn)區(qū)分是否I類根管更有針對性地分別選用了中間平面及根分叉平面。牙體長軸是一個重要參照概念，涉及大部分牙體....

本文編號：3966275