目的:利用CBCT測量上頜前牙的唇側(cè)釉質(zhì)厚度。方法:收集口腔頜面部CBCT影像數(shù)據(jù)140例，采用Mimics 21.0軟件測量計(jì)算上前牙唇側(cè)頸1/3、中1/3、切1/3釉質(zhì)平均厚度，并測算常規(guī)貼面牙體預(yù)備后釉質(zhì)剩余量。結(jié)果:上頜前牙區(qū)唇側(cè)釉質(zhì)厚度值自頸部1/3至切端1/3逐漸增大，不同牙位頸1/3處釉質(zhì)厚度值自中切牙至尖牙有逐漸減小趨勢，中1/3及切1/3相對較平穩(wěn)。不同年齡組間前牙唇側(cè)釉質(zhì)厚度差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05)的位置為：上頜中切牙切1/3,上頜側(cè)切牙頸1/3,其余測量位點(diǎn)均無統(tǒng)計(jì)學(xué)差異。通過貼面牙體預(yù)備后釉質(zhì)剩余量的測算顯示牙本質(zhì)暴露發(fā)生率均不超過1.5%,當(dāng)加大貼面預(yù)備量時(shí)，頸部牙本質(zhì)暴露的風(fēng)險(xiǎn)將升高。結(jié)論:使用CBCT測量前牙區(qū)唇側(cè)釉質(zhì)厚度的方法安全可靠；上頜前牙區(qū)唇側(cè)頸部釉質(zhì)較薄，行貼面牙體預(yù)備時(shí)，應(yīng)注意權(quán)衡牙本質(zhì)暴露風(fēng)險(xiǎn)。

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
資料和方法
    1 CBCT圖像的獲取
    2 方法
        2.1 唇側(cè)釉質(zhì)厚度測量位點(diǎn)(圖1B)
        2.2 貼面預(yù)備后剩余釉質(zhì)量的計(jì)算
    3 統(tǒng)計(jì)學(xué)分析
結(jié) 果
    1 上頜前牙區(qū)不同牙位唇側(cè)釉質(zhì)厚度
    2 不同年齡組上頜前牙區(qū)不同位點(diǎn)唇側(cè)釉質(zhì)厚度的比較
    3 貼面預(yù)備后剩余釉質(zhì)量
討 論



本文編號：3844865