發(fā)布時(shí)間：2020-12-30 15:38

　　目的利用數(shù)字成像曲面體層攝影技術(shù)研究頜骨后部解剖標(biāo)志顯現(xiàn)情況,并進(jìn)行測(cè)量,為正頜外科、智齒拔除術(shù)和種植義齒的頜骨手術(shù)進(jìn)路、深度等臨床治療方案提供依據(jù)。方法選取種植義齒術(shù)前數(shù)字曲面斷層片100例,均采用標(biāo)準(zhǔn)全口曲面體層位投照,進(jìn)行圖像數(shù)字化處理,觀察頜骨后部解剖標(biāo)志顯現(xiàn)情況并進(jìn)行測(cè)量。結(jié)果頦孔前后位置高低及頦孔區(qū)下頜骨體高度左右基本一致,42例患者看到頦管影像。磨牙區(qū)下頜管與牙根尖距離從前向后逐漸減小,下頜神經(jīng)管顯現(xiàn)率從后向前逐漸降低,下頜管直徑左右兩側(cè)無(wú)明顯差異。磨牙區(qū)下頜體高度及磨牙區(qū)下頜管上緣至牙槽嵴頂?shù)木嚯x從前向后逐漸減小。下頜第三磨牙阻生組中近中傾斜角平均為48.80°,萌生組中近中傾斜角平均為6.84°。阻生組磨牙后間隙比萌生組小,二者之間具有統(tǒng)計(jì)學(xué)上差異(P<0.05)。萌生組與阻生組磨牙后間隙/牙冠近遠(yuǎn)中徑的平均值分別為1.17、0.62(P<0.05)。萌生組與阻生組牙冠近遠(yuǎn)中徑之間無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)差異。下頜第三磨牙阻生的發(fā)生率與近中傾斜角呈正相關(guān)(P<0.05),而與磨牙后間隙呈負(fù)相關(guān)(P<0.05)。上頜竇顯現(xiàn)情況為90%,最大范圍向前達(dá)到尖牙區(qū),向... 

【文章來(lái)源】：山東大學(xué)學(xué)報(bào)(醫(yī)學(xué)版). 2009年10期 北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：4 頁(yè)

【文章目錄】：
1 資料與方法
    1.1 資料
    1.2 X線投照方法
    1.3 測(cè)量項(xiàng)目
    1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)處理
2 結(jié) 果
    2.1 頦孔位置及頦管顯現(xiàn)情況
    2.2 頦孔上界、下界、頦孔區(qū)下頜骨的高度
    2.3 下頜神經(jīng)管顯現(xiàn)情況
    2.4 磨牙區(qū)下頜管與牙根尖距離測(cè)量結(jié)果
    2.5 磨牙區(qū)下頜體高度
    2.6 下頜管直徑、下頜管上緣至牙槽嵴頂?shù)木嚯x
    2.7 下頜第三磨牙近中傾角、牙冠近遠(yuǎn)中徑、磨牙后間隙等左右兩側(cè)比較
    2.8 下頜角角度
    2.9 上頜竇竇底至牙槽嵴頂距離及范圍
3 討 論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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[9]下頜后牙區(qū)頜骨高度的曲面體層片測(cè)量研究[J]. 謝旻,胡敏,劉洪臣,黃旭明,王照五,石校偉.  口腔頜面修復(fù)學(xué)雜志. 2002(01)
[10]利用下頜數(shù)字成像曲面斷層X(jué)線片進(jìn)行下頜管形態(tài)研究[J]. 朱東望,李世芬,李冀云,王雨生,盧建慧.  天津醫(yī)科大學(xué)學(xué)報(bào). 2001(01)



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