腦白質損傷主要發(fā)生在<32周白質發(fā)育未成熟的早產兒,是造成慢性神經系統(tǒng)發(fā)育不良的主要原因,大多會留有神經系統(tǒng)后遺癥,對家庭和社會造成極大負擔。顱腦彩超和振幅整合腦電圖是篩查早產兒腦損傷的主要方法,對非囊性腦白質損傷的敏感性不高。傳統(tǒng)的MRI對檢測更微小及非囊性病變優(yōu)于頭顱彩超,但不能量化白質損傷程度,在早產兒腦白質損傷的評估中作用有限。彌散張力成像能夠可視化白質結構,評估白質纖維髓鞘化程度,是目前唯一可用于研究白質纖維的無創(chuàng)技術,對大腦的微觀結構變化更敏感。因此本文就早產兒WMI、DTI檢查優(yōu)勢及原理,以及DTI在早產兒腦發(fā)育、WMI疾病等應用進展做一綜述。

【文章頁數】：4 頁

【文章目錄】：
1 早產兒腦白質損傷
    1.1 病因及常見危險因素
    1.2 病理類型
    1.3 臨床表現
    1.4 臨床診治的局限性
2 傳統(tǒng)影像學的缺陷與彌散張力成像檢查優(yōu)勢
3 彌散張力成像原理及其參數意義
    3.1 原理和機制
    3.2 彌散張力成像相關參數及意義
4 彌散張力成像的臨床應用進展
    4.1 DTI在嬰兒腦發(fā)育中的應用
    4.2 DTI在腦白質損傷的應用
5 展望



本文編號：4029252