眼電偽跡自動識別與去除的新方法
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【摘要】:為了改善腦電中的眼電偽跡過估計問題及環(huán)境干擾耦合引起的非線性混合對眼電去除效果的影響,提出一種基于快速核獨立成分分析(Fast Kernel Independent Component Analysis,Fast KICA)與離散小波變換(Discrete Wavelet Transform,DWT)的眼電自動去除方法,即(Fast Kernel Independent Wavelet Transform,FKIWT)方法.首先,利用Fast KICA方法對腦電信號進(jìn)行分離得到獨立成分,并以相關(guān)系數(shù)為依據(jù)識別出眼電偽跡;進(jìn)而,基于DWT對眼電偽跡進(jìn)行多分辨率分析,將逼近分量置零,而細(xì)節(jié)分量保持不變,使得重構(gòu)所得眼電偽跡成分保留更多有用腦電信號;最后,利用Fast KICA逆變換重建眼電去除后的腦電信號.實驗結(jié)果表明:FKIWT不僅有效改善了眼電過估計問題,增強(qiáng)了抗干擾能力和魯棒性,而且在線性混合和非線性混合情況下,均得到較好的偽跡去除效果,特別是在非線性混合時優(yōu)勢更為明顯,適合于實際在線應(yīng)用.
【作者單位】: 北京工業(yè)大學(xué)電子信息與控制工程學(xué)院;計算智能與智能系統(tǒng)北京市重點實驗室;北京工業(yè)大學(xué)生命科學(xué)與生物工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】: 非線性混合模型 快速核獨立成分分析 離散小波變換 眼電過估計 魯棒性
【基金】:國家自然科學(xué)基金(No.81471770,No.61201362) 北京市自然科學(xué)基金(No.7132021,No.7132028)
【分類號】:R338;TN911.7
【正文快照】: 1引言腦電信號(Electroencephalogram,EEG)是通過電極在頭皮表面采集到的反映大腦內(nèi)部狀態(tài)的生物電信號,在神經(jīng)科學(xué)、腦科學(xué)、臨床醫(yī)學(xué)與康復(fù)工程等領(lǐng)域具有十分重要的作用.腦電信號采集過程中極易受到眼電、肌電、心電等多種噪聲干擾[1],而眼電信號由于幅值較大,嚴(yán)重影響腦電
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10 李明愛;梅意城;孫炎s
本文編號:443235
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