本文關鍵詞：基于似然比檢驗的方差控制圖，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：目前控制圖已經(jīng)廣泛的應用于過程監(jiān)控,如果過程失控,能夠及時地提醒我們采取措施避免或消除漂移.在工業(yè)中有很多因素可能導致過程方差的改變,但是卻沒有影響均值的變化,這些因素包括：原材料的質量問題、技術不熟練的員工、機器零件的松動問題等.在本文中,提出了一個新的控制圖,把指數(shù)加權滑動平均(Exponentially Weighted Moving Average,EWMA)方法和廣義似然比(Generalized Likelihood Ratio,GLR)檢驗統(tǒng)計量結合來檢測過程的方差,這個新的控制圖容易設計和構造.由于GLR檢驗和EWMA方法良好的性質,通過計算顯示,新的控制圖有很好的性能,包括能夠檢測方差的降低和樣本容量為1的情況,這在很多實際應用中是非常重要的,但已有的一些方法卻無法處理這樣的問題.文中給出了最優(yōu)設計參數(shù),用于當ARL給定時對于指定的方差漂移的參數(shù)選擇.最后通過來自化學過程控制的真實數(shù)據(jù)的例子來說明此圖的應用.
【關鍵詞】：似然比檢驗 指數(shù)加權滑動平均(EWMA) 平均運行長度(ARL) 統(tǒng)計過程控制
【學位授予單位】：遼寧大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：O213.1
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 引言8-12
• 1.1 概述8-9
• 1.2 關于檢測方差控制圖的研究現(xiàn)狀9-10
• 1.3 本文結構10-12
• 2 已有方差控制圖簡介12-15
• 2.1 CH圖(Crowder和Hamitton(1992))12-13
• 2.2 SJ圖(Shu和Jiang(2008))13-14
• 2.3 CPC圖(Acosta-Mejia(1999))14-15
• 3 基于似然比檢驗的方差控制圖15-18
• 4 ELR圖的步長分布18-20
• 5 ELR圖的設計20-21
• 6 控制圖的性能比較21-28
• 6.1 EWMA類型的上單邊控制圖的比較21-22
• 6.2 EWMA類型的下單邊控制圖的比較22-24
• 6.3 相應的最優(yōu)參數(shù)的比較24-26
• 6.4 雙邊控制圖的比較26-28
• 7 實例應用28-30
• 8 總結30-31
• 致謝31-32
• 參考文獻32-36
• 附錄36-47

【共引文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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  本文關鍵詞：基于似然比檢驗的方差控制圖，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：327073