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Complex Programmable Logic Device的檢測與分析

發(fā)布時間:2022-01-05 11:52
  隨著我國數(shù)字集成電路產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,數(shù)字集成電路測試和服務(wù)在產(chǎn)業(yè)鏈中的作用將越來越大。專業(yè)化的數(shù)字集成電路(IC)測試業(yè)是集成電路產(chǎn)業(yè)中一個重要組成部分,從產(chǎn)品設(shè)計開始至完成加工全過程,提供給客戶的產(chǎn)品是否合格就是通過測試完成的。集成電路測試對集成電路的發(fā)展具有重要意義,不僅可以確保系統(tǒng)的可靠性,而且可以降低系統(tǒng)成本。本文介紹了一個100腳CPLDXC9500系列芯片的測試項目。其中包過:提出了項目的軟硬件測試方案,編寫測試程序,介紹了基于測試儀的集成電路的測試原理和方法,包括電氣特性測試原理和功能測試原理,詳細(xì)地介紹了通用的測試方法以及一些當(dāng)今流行的比較特殊的測試方法,進(jìn)行了常見的故障分析。通過閱讀本文能使讀者們認(rèn)識到測試在集成電路發(fā)展中的重要位置,簡單了解數(shù)字集成電路項目從開始測試設(shè)計到最后完成測試任務(wù)的相關(guān)過程,知道CPLD9500系芯片的結(jié)構(gòu)和原理,了解有關(guān)集成電路測試的測試儀和相關(guān)的測試原理及測試方法。希望通過本文能讓更多人認(rèn)識了解集成電路的測試,加入到這個行業(yè)來。對于測試工程師來說,對于同一個項目不同測試工程師會設(shè)計出不同的測試方法,其根本遵守的原則是節(jié)省測試成本,節(jié)約時間... 

【文章來源】:遼寧大學(xué)遼寧省 211工程院校

【文章頁數(shù)】:79 頁

【學(xué)位級別】:碩士

【部分圖文】:

Complex Programmable Logic Device的檢測與分析


J750測試系統(tǒng)全貌

系統(tǒng)圖,系統(tǒng)圖,全寬


測試系統(tǒng)是高壓驅(qū)動器,支持 32 倍的并行測試,選項:掃描測試,A / D 和 D / A 轉(zhuǎn)換器測試,嵌入式記憶體測試,混合信號測試(音頻/視頻工具),模擬參數(shù)測量單元,射頻接口。圖 1-2 是 J750 系統(tǒng)圖。PCI Board,是 PC 機(jī)與J750 之間的接口,同時也是 CUB 板上當(dāng)?shù)貍€人計算機(jī)總線與 TCIO 總線接口。Channel Board 是一個信號板上的高速數(shù)字子系統(tǒng),每個通道板上有 64 個通道。Relay Boards 能把信號轉(zhuǎn)換到有需要的引腳,連接通道板。CUB(通用時鐘板)是 J750PCI 數(shù)據(jù)總線與其他電路板的接口,生成和分配主時鐘,向 DIB 提供開關(guān)電源,監(jiān)查風(fēng)扇和直流電源,也包括了硬件校準(zhǔn) J750。DSP(設(shè)備電源)每個電路板提供 8 單象限電源通道。選項板:APMU(模擬參數(shù)測量單元)(全寬槽),RFIO(射頻接口選件)(全寬槽),CTO(轉(zhuǎn)換器測試選項)(全寬槽),LMF(中低頻率)(全寬槽),MTO(內(nèi)存測試選項),DSIO(數(shù)字來源的 IO)。

測試程序


IG-XL軟件圖

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]CMOS源極跟隨緩沖電路[J]. 余寧梅,楊安,陳治明,高勇.  半導(dǎo)體學(xué)報. 2001(04)

博士論文
[1]千兆以太網(wǎng)中低電壓高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計研究[D]. 陳誠.復(fù)旦大學(xué) 2005



本文編號:3570300

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