可逆邏輯電路是低功耗設(shè)計(jì)和量子信息科學(xué)的重要基礎(chǔ)，在低功耗CMOS技術(shù)和納米技術(shù)中有著重要的發(fā)展前景。本文對(duì)可逆邏輯電路的綜合方法和故障檢測(cè)修復(fù)方法等相關(guān)內(nèi)容作了研究，主要工作內(nèi)容如下：（1）基于Kronecker函數(shù)決策圖的可逆邏輯綜合方法研究。該方法將可逆邏輯電路的描述轉(zhuǎn)換成電路的功能函數(shù)表達(dá)式，通過(guò)三種分解方法將功能函數(shù)進(jìn)行分解，表示成Kronecker函數(shù)決策圖的形式。然后根據(jù)Kronecker函數(shù)決策圖中不同類型的節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)相應(yīng)的可逆邏輯電路模塊，最后將Kronecker函數(shù)決策圖中所有節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電路模塊級(jí)聯(lián)，得到綜合電路。以可逆基準(zhǔn)電路為例，對(duì)該方法做了驗(yàn)證。結(jié)果表明，該方法能綜合輸入位數(shù)較多的可逆邏輯電路，并且量子代價(jià)有所降低。（2）可逆邏輯電路故障檢測(cè)與修復(fù)方法研究。根據(jù)電路中可逆邏輯門的數(shù)目，把電路分成多個(gè)層級(jí)，將每個(gè)層級(jí)中的可逆邏輯門進(jìn)行重新封裝，添加控制位，每層級(jí)另外添加一個(gè)相同的門。設(shè)置各層級(jí)中新添加的控制位和可逆邏輯門的輸入，設(shè)置測(cè)試向量，對(duì)電路進(jìn)行故障檢測(cè)，替換發(fā)生故障的門，使電路能正常工作。并且以prim3可逆基準(zhǔn)電路為例，運(yùn)用該方法設(shè)計(jì)了電路。結(jié)果表明，該... 

【文章來(lái)源】：南京航空航天大學(xué)江蘇省 211工程院校

【文章頁(yè)數(shù)】：74 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

控制V門和控制V+門

部分量子代價(jià)為1的電路

表示I函數(shù)的二叉決策圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于對(duì)換門庫(kù)的可逆邏輯電路綜合算法[J]. 李志鋼,陳漢武,李志強(qiáng),朱皖寧,劉志昊.  東南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2012(05)
[2]量子計(jì)算機(jī)的發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢(shì)[J]. 郭光燦,周正威,郭國(guó)平,涂濤.  中國(guó)科學(xué)院院刊. 2010(05)
[3]量子邏輯電路中控制點(diǎn)失效錯(cuò)誤的定位[J]. 肖芳英,陳漢武.  計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展. 2009(02)
[4]可逆電路中門失效錯(cuò)誤的定位方法[J]. 肖芳英,陳漢武,李志強(qiáng).  光電子技術(shù). 2007(03)
[5]基于Reed-Muller量子可逆邏輯電路的綜合快速算法[J]. 李志強(qiáng),陳漢武.  揚(yáng)州大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2006(04)



本文編號(hào)：3452658