用掃描電鏡的背散射電子成像,可以得到樣品表面薄層區(qū)域的電子密度信息。本研究利用掃描電鏡背散射電子成像模式進(jìn)行超薄切片的超微結(jié)構(gòu)大視野觀察、輔助原子力顯微鏡探針精細(xì)定位以及超薄切片輔助修塊定位。在超微結(jié)構(gòu)觀察中,消除了載網(wǎng)網(wǎng)格對(duì)切片的遮擋,實(shí)現(xiàn)了電鏡載網(wǎng)超薄切片的掃描電鏡大視野成像,細(xì)胞結(jié)構(gòu)分辨率接近于透射電鏡。在原子力顯微技術(shù)中,通過不同放大倍數(shù)下對(duì)應(yīng)掃描電鏡背散射電子像與原子力顯微鏡光學(xué)輔助圖中樣品特征的方法,輔助原子力顯微鏡進(jìn)行精細(xì)探針定位。在超薄切片修塊中,可以用掃描電鏡背散射電子像觀察樹脂包埋塊的切面來檢驗(yàn)修塊結(jié)果,提高修塊精度和效率。

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
1 材料與方法
    1.1 供試材料
    1.2 樣品制備和切片
    1.3 電鏡觀察
    1.4 原子力顯微鏡觀察
2 結(jié)果
    2.1 應(yīng)用掃描電鏡觀察載網(wǎng)上的超薄切片
    2.2 利用掃描電鏡輔助原子力顯微鏡探針精細(xì)定位
    2.3 利用掃描電鏡觀察包埋塊檢驗(yàn)修塊結(jié)果
3 討論



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