刮膜式分子蒸餾過(guò)程的故障檢測(cè)及混沌系統(tǒng)控制方法研究
發(fā)布時(shí)間:2022-07-13 10:56
刮膜式分子蒸餾器作為目前應(yīng)用最廣泛的分子蒸餾蒸發(fā)器,由于其復(fù)雜的物理、化學(xué)反應(yīng)及物質(zhì)能量的轉(zhuǎn)換與傳遞,使得整個(gè)生產(chǎn)系統(tǒng)具備非線性、強(qiáng)耦合、大滯后、不確定性等特點(diǎn),因此無(wú)法建立準(zhǔn)確的數(shù)學(xué)模型。目前,大多是由生產(chǎn)人員憑經(jīng)驗(yàn)操作刮膜蒸發(fā)過(guò)程中的工藝參數(shù),因此難以保證生產(chǎn)過(guò)程的持續(xù)平穩(wěn)運(yùn)行。當(dāng)發(fā)生故障時(shí)會(huì)導(dǎo)致工藝參數(shù)波動(dòng)較大,影響產(chǎn)品的純度和得率,若不及時(shí)處理故障甚至?xí)斐芍卮笫鹿实陌l(fā)生。為了保證生產(chǎn)過(guò)程安全運(yùn)行,必須快速監(jiān)測(cè)出工況異;蛘吖收,從而提高系統(tǒng)的可靠性和安全性。針對(duì)以上問(wèn)題,本文做出了以下研究:首先,采用主元分析法(Principal Component Analysis,PCA)進(jìn)行故障檢測(cè),通過(guò)將過(guò)程數(shù)據(jù)投影到主元和殘差兩個(gè)子空間,建立相應(yīng)的T~2和Q統(tǒng)計(jì)量來(lái)判斷過(guò)程的運(yùn)行狀況。針對(duì)主元個(gè)數(shù)作為監(jiān)測(cè)模型的唯一結(jié)構(gòu)參數(shù)決定了故障檢測(cè)的準(zhǔn)確性問(wèn)題,采用故障信噪比(Fault Signal Noise Ratio,Fault SNR)進(jìn)行最優(yōu)主元個(gè)數(shù)的選取,并將其應(yīng)用到刮膜蒸發(fā)過(guò)程進(jìn)行故障檢測(cè)。通過(guò)與傳統(tǒng)的累計(jì)方差賈獻(xiàn)率(Cumulative Percent Variance,CP...
【文章頁(yè)數(shù)】:73 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第1章 緒論
1.1 課題研究背景及意義
1.1.1 故障診斷的必要性
1.1.2 本課題的研究意義
1.2 故障診斷方法的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.2.1 過(guò)程監(jiān)控的內(nèi)容
1.2.2 故障診斷方法的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 無(wú)刷直流電機(jī)混沌控制技術(shù)的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.4 本文主要內(nèi)容及章節(jié)安排
第2章 基于主元分析法的刮膜蒸發(fā)過(guò)程故障檢測(cè)
2.1 刮膜式分子蒸餾過(guò)程簡(jiǎn)介
2.1.1 分子蒸餾技術(shù)原理
2.1.2 分子蒸餾系統(tǒng)主要組成部分
2.1.3 刮膜蒸發(fā)過(guò)程的工藝參數(shù)
2.2 主元分析法的基本原理
2.2.1 主元分析的基本思想
2.2.2 主元分析的監(jiān)測(cè)模型
2.2.3 主元分析的故障檢測(cè)
2.3 主元個(gè)數(shù)的選取方法
2.3.1 傳統(tǒng)主元個(gè)數(shù)的選取方法
2.3.2 故障信噪比確定模型
2.4 基于主元分析的故障檢測(cè)過(guò)程
2.5 仿真實(shí)驗(yàn)對(duì)比分析
2.6 本章小結(jié)
第3章 改進(jìn)主元分析法的刮膜蒸發(fā)過(guò)程故障檢測(cè)
3.1 改進(jìn)主元分析法
3.2 故障的可檢測(cè)性分析
3.2.1 可檢測(cè)性的必要條件
3.2.2 可檢測(cè)性的充分條件
3.3 改進(jìn)主元分析的故障檢測(cè)過(guò)程
3.4 仿真實(shí)驗(yàn)對(duì)比分析
3.4.1 工況參數(shù)變化的研究
3.4.2 微小故障的研究
3.5 本章小結(jié)
第4章 刮膜電機(jī)混沌系統(tǒng)的非線性控制方法
4.1 無(wú)刷直流電機(jī)的混沌特性分析
4.1.1 無(wú)刷直流電機(jī)的數(shù)學(xué)模型
4.1.2 混沌的重要特征
4.2 基于延時(shí)控制器的無(wú)刷直流電機(jī)混沌控制
4.2.2 延時(shí)控制器的設(shè)計(jì)
4.2.3 監(jiān)督開(kāi)關(guān)延時(shí)估計(jì)控制器的設(shè)計(jì)
4.2.4 仿真實(shí)驗(yàn)
4.3 基于SFNN的無(wú)刷直流電機(jī)混沌同步
4.3.1 SFNN的基本原理
4.3.2 設(shè)計(jì)SFNN辨識(shí)器和魯棒控制器
4.3.3 仿真實(shí)驗(yàn)
4.4 本章小結(jié)
第5章 結(jié)論
5.1 總結(jié)
5.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
作者簡(jiǎn)介
攻讀碩士學(xué)位期間研究成果
本文編號(hào):3659916
【文章頁(yè)數(shù)】:73 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第1章 緒論
1.1 課題研究背景及意義
1.1.1 故障診斷的必要性
1.1.2 本課題的研究意義
1.2 故障診斷方法的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.2.1 過(guò)程監(jiān)控的內(nèi)容
1.2.2 故障診斷方法的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.3 無(wú)刷直流電機(jī)混沌控制技術(shù)的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1.4 本文主要內(nèi)容及章節(jié)安排
第2章 基于主元分析法的刮膜蒸發(fā)過(guò)程故障檢測(cè)
2.1 刮膜式分子蒸餾過(guò)程簡(jiǎn)介
2.1.1 分子蒸餾技術(shù)原理
2.1.2 分子蒸餾系統(tǒng)主要組成部分
2.1.3 刮膜蒸發(fā)過(guò)程的工藝參數(shù)
2.2 主元分析法的基本原理
2.2.1 主元分析的基本思想
2.2.2 主元分析的監(jiān)測(cè)模型
2.2.3 主元分析的故障檢測(cè)
2.3 主元個(gè)數(shù)的選取方法
2.3.1 傳統(tǒng)主元個(gè)數(shù)的選取方法
2.3.2 故障信噪比確定模型
2.4 基于主元分析的故障檢測(cè)過(guò)程
2.5 仿真實(shí)驗(yàn)對(duì)比分析
2.6 本章小結(jié)
第3章 改進(jìn)主元分析法的刮膜蒸發(fā)過(guò)程故障檢測(cè)
3.1 改進(jìn)主元分析法
3.2 故障的可檢測(cè)性分析
3.2.1 可檢測(cè)性的必要條件
3.2.2 可檢測(cè)性的充分條件
3.3 改進(jìn)主元分析的故障檢測(cè)過(guò)程
3.4 仿真實(shí)驗(yàn)對(duì)比分析
3.4.1 工況參數(shù)變化的研究
3.4.2 微小故障的研究
3.5 本章小結(jié)
第4章 刮膜電機(jī)混沌系統(tǒng)的非線性控制方法
4.1 無(wú)刷直流電機(jī)的混沌特性分析
4.1.1 無(wú)刷直流電機(jī)的數(shù)學(xué)模型
4.1.2 混沌的重要特征
4.2 基于延時(shí)控制器的無(wú)刷直流電機(jī)混沌控制
4.2.2 延時(shí)控制器的設(shè)計(jì)
4.2.3 監(jiān)督開(kāi)關(guān)延時(shí)估計(jì)控制器的設(shè)計(jì)
4.2.4 仿真實(shí)驗(yàn)
4.3 基于SFNN的無(wú)刷直流電機(jī)混沌同步
4.3.1 SFNN的基本原理
4.3.2 設(shè)計(jì)SFNN辨識(shí)器和魯棒控制器
4.3.3 仿真實(shí)驗(yàn)
4.4 本章小結(jié)
第5章 結(jié)論
5.1 總結(jié)
5.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
作者簡(jiǎn)介
攻讀碩士學(xué)位期間研究成果
本文編號(hào):3659916
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