覆蓋集和覆蓋碼在編碼理論中有著重要的地位,與此同時,覆蓋碼在重寫閃速儲存器中有著重要的應(yīng)用.為了提高閃速儲存器的存儲密度,應(yīng)用q-值的存儲元,即有每個存儲元能儲存log2(q)個位元.相比單值存儲元,盡管這種多值存儲元增加了存儲密度,但是它也面臨兩個重要的挑戰(zhàn).其一,因為最高電壓的限制,導(dǎo)致了不同狀態(tài)的電壓差很小,使得數(shù)據(jù)的保留能力低而且讀取極易受干擾.另一方面,閃速儲存器中的數(shù)據(jù)寫入機(jī)制相對而言比較耗時,而找出固定參數(shù)最小階的覆蓋集能很好提高數(shù)據(jù)的寫入速度,解決這一問題.因此研究覆蓋集和覆蓋碼具有極其重要的理論意義和應(yīng)用價值.近些年來,人們利用數(shù)論和有限域上的一些理論,對部分參數(shù)的最小覆蓋集進(jìn)行了研究,與此同時也給出部分參數(shù)最小覆蓋集階的上界.本文利用數(shù)論和有限環(huán)的知識,研究了部分參數(shù)的有限界錯誤的覆蓋集.對任意正整數(shù)λ,r<q,其中整數(shù)r|q,其中g(shù)cd(r,6)= 1.首先本文研究了參數(shù)λ = 3,q = 2kr,其中k ≥ 2時,由最小的(3,0;2k-2r)-覆蓋集構(gòu)造最小的(3,0;2kr)-覆蓋集.其次,當(dāng)參數(shù)q = 3lr,l≥2時,一方面由最小的(3,0;3l-...

【文章頁數(shù)】：30 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第一章 引言
    1.1 研究背景、研究意義及已有的國內(nèi)外研究成果
    1.2 本文主要解決的問題
第二章 預(yù)備知識
    2.1 基本定義
    2.2 基本的引理
第三章 最小的(3,0;2^kr)-覆蓋集的構(gòu)造
    3.1 主要的結(jié)論
    3.2 具體算例和過程
第四章 最小的(λ,0;3^lr)-覆蓋集的構(gòu)造
    4.1 最小的(3,0;3^lr)-覆蓋集的構(gòu)造
    4.2 最小的(4,0;3^lr)-覆蓋集的構(gòu)造
第五章 歸納總結(jié)
參考文獻(xiàn)
致謝



本文編號：3795979