本文關(guān)鍵詞：光交換芯片的串擾分析與DQPSK信號傳輸實驗

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【摘要】：串擾和插入損耗是表征光交換芯片傳輸性能的重要參數(shù)。將串擾與插入損耗特性結(jié)合起來,提出一種分析光交換集成芯片串擾的理論模型,考慮了串擾對開關(guān)路由的依賴性。實驗測量了基于馬赫-曾德爾干涉儀(MZI)的4×4拜尼茲結(jié)構(gòu)的光交換集成芯片的串擾和插入損耗系數(shù),以及不同開關(guān)路由狀態(tài)下40 Gb/s差分四相相移鍵控(DQPSK)信號的傳輸性能,實驗結(jié)果與理論分析基本一致。根據(jù)測得的串擾和插入損耗系數(shù),計算了16×16光交換芯片串擾范圍。
【作者單位】： 電子科技大學光纖傳感與通信教育部重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】： 光通信 光子集成芯片 光開關(guān)陣列 串擾 插入損耗
【基金】：國家863計劃(2012AA011304) 國家自然科學基金(61271166) 教育部創(chuàng)新團隊發(fā)展計劃
【分類號】：TN929.11
【正文快照】： 1引言光纖通信的發(fā)展離不開傳輸和交換兩大技術(shù)。聯(lián)合使用波分復用技術(shù)與高階光調(diào)制技術(shù)使光纖傳輸?shù)娜萘看蟠筇岣?而現(xiàn)有全光交換技術(shù)尚不能達到光傳送網(wǎng)的交換規(guī)模需求和光分組交換的交換速度要求。光交換芯片技術(shù)的發(fā)展也越來越受到重視[1-2]。其中,基于載流子色散效應的硅

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本文編號：806957