發(fā)布時(shí)間：2017-08-15 09:20

  本文關(guān)鍵詞：自動(dòng)周期選取的DFT方法在TFT-LCD平板檢測(cè)中的應(yīng)用

  更多相關(guān)文章： TFT-LCD 缺陷檢測(cè) 一維傅里葉變換 周期Δx

【摘要】：在TFT-LCD平板表面缺陷檢測(cè)中,一維DFT方法非常有效,空間域圖像中周期Δx作為關(guān)鍵參數(shù)之一,需要準(zhǔn)確地獲取。傳統(tǒng)的Δx的獲取是通過(guò)人工手動(dòng)計(jì)算得到的,為了自動(dòng)獲取Δx,設(shè)計(jì)了自動(dòng)周期選取算法,利用數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)對(duì)一維無(wú)缺陷圖像進(jìn)行處理,通過(guò)提取峰值位置、排序、計(jì)算間距和統(tǒng)計(jì)次數(shù),得到準(zhǔn)確的Δx。搭建了TFT-LCD平板檢測(cè)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),實(shí)驗(yàn)對(duì)不同長(zhǎng)度(N=256、320和400)、不同分辨率(8.1、9.5和10.7μm/像素)、不同光照下的圖像進(jìn)行處理,能夠準(zhǔn)確地獲取Δx,準(zhǔn)確率達(dá)100%。將選取的Δx應(yīng)用于缺陷檢測(cè)中,系統(tǒng)可以準(zhǔn)確檢測(cè)出缺陷區(qū)域,證明了該選取方法具有良好的實(shí)用性和魯棒性。
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： TFT-LCD 缺陷檢測(cè) 一維傅里葉變換 周期Δx
【基金】：國(guó)家重大儀器專項(xiàng)(2013YQ220749)項(xiàng)目資助
【分類(lèi)號(hào)】：TP391.41;TN873.93
【正文快照】： 1引言近年來(lái),由于薄膜晶體管-液晶顯示屏(TFT-LCD)的全彩色顯示能力、低功耗和重量輕等特點(diǎn),使得TFT-LCD廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,例如電視機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、筆記本電腦和移動(dòng)終端等顯示領(lǐng)域。為了保證顯示質(zhì)量和提高產(chǎn)量,TFT-LCD平板表面缺陷檢測(cè)已經(jīng)成為其制造過(guò)程中的一項(xiàng)重

【相似文獻(xiàn)】

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