基于四組加速退化試驗(yàn)的VFD壽命預(yù)測(cè)
發(fā)布時(shí)間:2021-06-11 05:09
為在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確獲得真空熒光顯示器的壽命信息,該文在提高陰極燈絲溫度的基礎(chǔ)上開展四組恒定應(yīng)力作用下的加速退化試驗(yàn),利用加速時(shí)間與加速系數(shù)的關(guān)系將加速應(yīng)下的試驗(yàn)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為常規(guī)應(yīng)力下的亮度衰減數(shù)據(jù),基于三參數(shù)威布爾函數(shù)和右逼近法建立壽命預(yù)測(cè)模型,從而實(shí)現(xiàn)壽命的估算。結(jié)果表明,加速退化試驗(yàn)方案切實(shí)可行,基于亮度衰減的壽命模型不僅準(zhǔn)確揭示亮度隨時(shí)間的變化規(guī)律,而且具有較高的預(yù)測(cè)精度,可為制造商和用戶提供技術(shù)參考,并可推廣到其他光電產(chǎn)品。
【文章來源】:中國(guó)測(cè)試. 2020,46(04)北大核心
【文章頁數(shù)】:5 頁
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于比例危險(xiǎn)退化建模的產(chǎn)品可靠性評(píng)估方法[J]. 蔡忠義,陳云翔,李超,李?yuàn)檴? 電光與控制. 2018(03)
[2]基于加速退化數(shù)據(jù)的可靠性評(píng)估技術(shù)綜述[J]. 王浩偉,滕克難. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2017(12)
[3]大功率半導(dǎo)體激光器可靠性研究和失效分析[J]. 王文知,井紅旗,祁瓊,王翠鸞,倪羽茜,劉素平,馬驍宇. 發(fā)光學(xué)報(bào). 2017(02)
[4]性能退化量分布LED可靠性評(píng)估[J]. 徐歡,劉桂雄,余榮斌. 中國(guó)測(cè)試. 2016(09)
[5]基于Kolmogorov-Smirnov檢驗(yàn)的LED可靠性評(píng)估[J]. 夏云云,文尚勝,方方. 光子學(xué)報(bào). 2016(09)
[6]基于PoF模型的電子產(chǎn)品可靠性參數(shù)計(jì)算方法[J]. 駱明珠,陳穎,康銳. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2014(04)
[7]VFD顯示圖像缺陷檢測(cè)技術(shù)研究[J]. 李定珍,王萍. 液晶與顯示. 2013(01)
[8]基于AT89C52的VFD顯示模塊應(yīng)用[J]. 張猛,王瑞光,鄭喜鳳. 液晶與顯示. 2012(01)
[9]GaAs PHEMT器件高溫加速壽命試驗(yàn)及物理分析[J]. 崔曉英,許燕,黃云. 電子器件. 2010(01)
[10]加速退化試驗(yàn)技術(shù)綜述[J]. 鄧愛民,陳循,張春華,汪亞順. 兵工學(xué)報(bào). 2007(08)
本文編號(hào):3223877
【文章來源】:中國(guó)測(cè)試. 2020,46(04)北大核心
【文章頁數(shù)】:5 頁
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于比例危險(xiǎn)退化建模的產(chǎn)品可靠性評(píng)估方法[J]. 蔡忠義,陳云翔,李超,李?yuàn)檴? 電光與控制. 2018(03)
[2]基于加速退化數(shù)據(jù)的可靠性評(píng)估技術(shù)綜述[J]. 王浩偉,滕克難. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2017(12)
[3]大功率半導(dǎo)體激光器可靠性研究和失效分析[J]. 王文知,井紅旗,祁瓊,王翠鸞,倪羽茜,劉素平,馬驍宇. 發(fā)光學(xué)報(bào). 2017(02)
[4]性能退化量分布LED可靠性評(píng)估[J]. 徐歡,劉桂雄,余榮斌. 中國(guó)測(cè)試. 2016(09)
[5]基于Kolmogorov-Smirnov檢驗(yàn)的LED可靠性評(píng)估[J]. 夏云云,文尚勝,方方. 光子學(xué)報(bào). 2016(09)
[6]基于PoF模型的電子產(chǎn)品可靠性參數(shù)計(jì)算方法[J]. 駱明珠,陳穎,康銳. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2014(04)
[7]VFD顯示圖像缺陷檢測(cè)技術(shù)研究[J]. 李定珍,王萍. 液晶與顯示. 2013(01)
[8]基于AT89C52的VFD顯示模塊應(yīng)用[J]. 張猛,王瑞光,鄭喜鳳. 液晶與顯示. 2012(01)
[9]GaAs PHEMT器件高溫加速壽命試驗(yàn)及物理分析[J]. 崔曉英,許燕,黃云. 電子器件. 2010(01)
[10]加速退化試驗(yàn)技術(shù)綜述[J]. 鄧愛民,陳循,張春華,汪亞順. 兵工學(xué)報(bào). 2007(08)
本文編號(hào):3223877
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